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主题：xps :关于相对含量

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feixiong5134

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发表于：2005/11/26 08:19:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

请教个问题,当你在做宽扫时候没有的元素峰,但是你知道里面一定含有.所以你做个窄扫,并且的确出现了,此时应该怎么做它和其他元素的相当含量?

当时wuzl回答:只能在相同条件下做相对含量.

但是我在一篇文章上看见说双阳极交替使用,那样的话不是条件不同了,那更不是不能测相对含量了?论文的大致意思是说:通常我们选取双阳极中的一种Ｘ射线源ＭｇＫα或ＡｌＫα进行ＸＰＳ分析。在合金ＣｒＺｎＳｉ表面ＸＰＳ分析中,选用ＡｌＫα激发源时,Ｃｒ２ｐ峰受到ＺｎＬＭＭ俄歇峰的干扰,而选用ＭｇＫα虽可排除俄歇峰对Ｃｒ２ｐ峰的干扰,但Ｃ１ｓ和Ｎ１ｓ峰又会受到ＺｎＬＭＭ的干扰。在绝缘ＧａＮ粉末ＸＰＳ分析中,同样有类似的问题困扰
。为了消除俄歇谱的干扰,提高分析质量,在合金ＣｒＺｎＳｉ表面和绝缘ＧａＮ粉末样品的ＸＰＳ分析中,采用了交替使用Ｍｇ／Ａｌ双阳极,综合分析ＭｇＫα和ＡｌＫα的ＸＰＳ谱,得到了很好的分析结果。

这样的话那不是使用条件不同了?那怎么测相对含量啊?

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2005/11/26 11:10:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

你把所有组份都做一遍窄扫描，用它们来定量。

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feixiong5134

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2005/11/26 11:29:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 chengxps 发表:
你把所有组份都做一遍窄扫描，用它们来定量。

您的意思是所有的元素都用窄扫的?还是用宽扫的时候能扫到的元素,加上宽扫时候看不见.但是窄扫的时候能看见的.把他们组合在一起?对了,请教您一下quantification table(跟做样的时候哪个表有区别,它一般是打印的时候用)是如何出来的?我从机子上面找不到啊!

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WUZL

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2005/11/27 19:17:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 feixiong5134 发表:
原文由 chengxps 发表:
你把所有组份都做一遍窄扫描，用它们来定量。

您的意思是所有的元素都用窄扫的?还是用宽扫的时候能扫到的元素,加上宽扫时候看不见.但是窄扫的时候能看见的.把他们组合在一起?对了,请教您一下quantification table(跟做样的时候哪个表有区别,它一般是打印的时候用)是如何出来的?我从机子上面找不到啊!

宽扫和窄扫条件不同，定量计算时没有可比性。要不然全用窄扫，要不然用宽扫计算。

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feixiong5134

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2005/11/27 20:09:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 WUZL 发表:
原文由 feixiong5134 发表:
原文由 chengxps 发表:
你把所有组份都做一遍窄扫描，用它们来定量。

您的意思是所有的元素都用窄扫的?还是用宽扫的时候能扫到的元素,加上宽扫时候看不见.但是窄扫的时候能看见的.把他们组合在一起?对了,请教您一下quantification table(跟做样的时候哪个表有区别,它一般是打印的时候用)是如何出来的?我从机子上面找不到啊!

宽扫和窄扫条件不同，定量计算时没有可比性。要不然全用窄扫，要不然用宽扫计算。

那如果宽扫的时候扫不出来,只有在窄扫的时候扫出来.这个时候怎么确定他们的相对含量啊!

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