主题:求助:颗粒增强铝基复合材料透射电镜观察制样

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wwmdavid
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材料为SiC颗粒与6066铝粉混合经粉末冶金工艺(冷等静压、包套抽真空、热挤压、热处理等工序)制成。
透射电镜观察的样品处理:从样品中采取线切割得到0.5mm左右的薄片,在砂纸上手工磨到0.2mm,然后用磨凹仪继续减薄,最后到离子薄化仪上减薄穿孔。
存在的问题:透射电镜下观察,部分SiC颗粒周围存在孔隙。这种孔隙可能有两种来源:一是材料制备时本身存在的孔隙;一是离子薄化可能造成的。现难以区分造成孔隙的原因,这对判断复合材料的界面结合情况不利。
问题:对于颗粒增强铝基复合材料透射电镜样品的制备,除了采取离子薄化这种方法之外,有无其他方法制备?
请相关方面的专家帮忙给与解答。非常感谢!欢迎大家在此讨论颗粒增强铝基复合材料金相试样、透射试样制备的讨论。
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没做过类似的样品,化学腐蚀可以用否?叫什么双喷来着?
wwmdavid
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电解双喷据说不行。因为SiC陶瓷与铝基体的电解速度差异较大,喷出的薄片薄区是SiC颗粒形成的网孔,基体基本不存在,不能反映实际的复合材料组织。
wenyan0098
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好判断,如果孔的边缘很薄,则为离子减薄的。反之,则材料本身的孔
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