主题:[求助]关于截面外延薄膜样品,位错伯格斯矢量的测定,用JEOL2010。

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michaelzing
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[求助]本人近日要用JEOL2010做关于外延材料位错的东西,请教。

材料是蓝宝石上外延的GaN薄膜,位错的伯格斯 矢量希望通过汇聚束得到,
有以下需要帮助的,或有疑问的,请大哥大姐们不吝赐教:

经典的Cherns和Preston的关于会聚束测伯格斯矢量文章无处可得?!
如果谁有,请发附件,或是发我邮箱lonelyguy1998@sina.com 。

JEOL2010是否适合做会聚束,我们的2010没有特别的附件,平时主要做HR-TEM?
是否只是无法做"LA"CBED?

还有,聚得很小的电子束 会不会 损坏GaN样品?
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怪味陈皮
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Jin
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不知道GaN这种半导体导电好不好,而且N,是不是会想O那样,很容易被打掉。我作ZnSe时是不错的。
我同学有用2010作一个什么准晶里面位错的b矢量方面的问题,从汇聚束的效果来看还行,不过没有最后解决她老板想要的结果。
michaelzing
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大家请再多指教一点啊。

GaN应该比氧化物 稳定得多,
平时衍衬,高分辨都没有问题,只是不知会聚束得强电子会不会打坏?


还有 利用CBED做伯格斯矢量,容易吗?
我是说 用2010拍的话,容易得到想要的清晰照片吗?

再就是,样品的厚度可能偏厚,做衍衬可以清楚看到位错,
但是g.b时消光不是很彻底,
我的意思是:不是没有踩到应有的衍射方向,
而是在想要的区域内 图像不均匀,
应该是样品偏厚,

可是找到的位错分布 可遇不可求啊,样品不能再减薄了,
这种样品偏厚的情况 可以拍出比较理想的照片吗?

我的要求只是定出 伯格斯矢量,不要大范围的CBED照片。


大侠请教了。
也不知道我说清楚没有。
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