主题:【 】请问透射高分辨相如何分析?它能解决哪些问题?该看哪些书?请师兄们指导!

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btlzl
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透射高分辨相如何分析?它能解决哪些问题?该看哪些书?请师兄们指导!
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imrwb
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只有经验没有捷径,多看点这方面的书,答案不言自明!
《薄晶体电子显微学》刘安生 李永洪译
《电子衍射图在晶体学中的应用》郭可信 叶恒强 吴玉琨著
《电子衍射分析方法》黄孝瑛著
《高空间分辨分析电子显微学》朱静 叶恒强 王仁卉等编著
《材料评价的分析电子显微方法》(日)进藤大辅, 及川哲夫合著 刘安生译
《高分辨电子显微学在固体科学中的应用》郭可信, 叶恒强主编
《材料评价的高分辨电子显微方法》(日)进藤大辅,平贺贤二等合著 刘安生译
《电子衍射物理教程》 王蓉著
《晶体学中的对称群》王仁卉 郭可信著
《透射电子显微学进展》叶恒强 王元明主编
黄孝瑛的那本《透射电子显微学》也是不错的。
如果是操作:吴杏芳 柳得橹编得《电子显微分析使用方法》
和一本叫《实验高分辨电子显微学》的也可以看看。
《材料结构电子显微分析》天津大学出版社

btlzl
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谢谢楼上师兄回复。近几天也看了两本,由于原来未涉足过,目前自己还是不能实际标定,困扰我的主要问题是:
(1)衍射斑点和透射中心点之间的距离如何测量?是用普通尺子还是软件?
(2)和R1和R2的夹角如何实际测量?我把衍射底片洗出了照片,再用量角器直接量可以吗?

        自己是个初学的菜鸟,还望各位老师指教!!!急!急!急!
        先谢过了!
天黑请闭眼
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原文由 lzlflying 发表:
谢谢楼上师兄回复。近几天也看了两本,由于原来未涉足过,目前自己没是不能实际标定,困扰我的主要问题是:
(1)衍射斑点和透射中心点之间的距离如何测量?是用普通尺子还是软件?
(2)和R1和R2的夹角如何实际测量?我把衍射底片洗出了照片,再用量角器直接量可以吗?

        自己是个初学的菜鸟,还望各位老师指教!!!急!急!急!
        先谢过了!

1。用比较准确的学生尺即可
2。夹角可以用量角器,但读数尽量要准确。
imrwb
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谢谢楼上师兄回复。近几天也看了两本,由于原来未涉足过,目前自己没是不能实际标定,困扰我的主要问题是:
(1)衍射斑点和透射中心点之间的距离如何测量?是用普通尺子还是软件?
(2)和R1和R2的夹角如何实际测量?我把衍射底片洗出了照片,再用量角器直接量可以吗?

        自己是个初学的菜鸟,还望各位老师指教!!!急!急!急!
        先谢过了!

斑点间距测量时你可以测量一条线上的尽可能多的N个斑点的间距,最后结果除以N,这样会减少测量误差。角度测量一定要对好顶点,否则误差较大。
btlzl
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感谢楼上各位师兄的回答!胶片的事我算清楚了一些。
(1)可如果是对高分辨CCD像分析,对高分辨像进行FFT转换在倒空间进行衍射标定,只能用软件了吧?

(2)师兄能否把DM软件如何测量衍射斑点到透射斑点的距离和角度的方法和详细操作步骤给写一下?
    DM软件中Calibrated是干什么用的?它在什么条件下用?
(3)针对高分辨像我除了能衍射标定之外,还能分析和做些什么?

echong1982
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backkantchen
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原文由 lzlflying 发表:
感谢楼上各位师兄的回答!胶片的事我算清楚了一些。
(1)可如果是对高分辨CCD像分析,对高分辨像进行FFT转换在倒空间进行衍射标定,只能用软件了吧?
(2)师兄能否把DM软件如何测量衍射斑点到透射斑点的距离和角度的方法和详细操作步骤给写一下?
    DM软件中Calibrated是干什么用的?它在什么条件下用?
(3)针对高分辨像我除了能衍射标定之外,还能分析和做些什么?


>1. 如果是CCD 采集的高分辩象,我一般是不用FFT作衍射分析的。在衍射状态下,根据菊池线(Kikuchi Line)能严格知道所处的晶带轴方向,顺便就采集衍射图。所以也用不着FFT转换的图。
>2. “Standard Tools”工具栏中有一个直线工具,使其贯穿几个衍射斑点,线长和倾角(相对于水平)即显示在“Control”工具栏中。(Windows--Floating Windows--Show All打开所有工具栏。)另外划线完毕后会弹出一个Histogram窗口,其中可以有诸多Modification。可以看到目标精确距离,可以根据对比度准确找到衍射点中心。
>3. 高分辩象主要是看原子象(Atomic Structure)。可以看的很多,要结合你的研究目的。比如,可以标定纳米晶体颗粒各个表面的晶面参数,可以确定纳米线生长方向,可以确定界面处不同相的相互晶面关系,可以看到外延生长物在基底表面处的Misfit。
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