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主题：【求助】急求：Agilent ICP-MS 7500cs测多晶硅金属杂质方面的方法标准

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发表于：2007/11/07 15:11:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
悬赏金额：50积分 状态： 已解决
急求：（1）Agilent ICP-MS 7500cs测多晶硅金属杂质方面的方法标准；
　　　（2）PE ICP-OES 5300DV用于金属硅的检测的方法标准
有相关资料的大侠请在回帖中上传附件，先谢了！
推荐答案：过路的狼回复于2007/11/07
你要测多晶硅是什么级别的？电子么？？
一般来说在半导体行业中，大多都用的是agilent的ICP-MS，因为这个行业作者方面的工作很难，而在这方面，agilent有很多应用的资料，另外，这个行业著名的，四川新光硅材料、洛阳中硅、以及四川峨嵋半导体都用的是agilent的仪器，但这些资料都涉及到保密信息，你很难拿到阿！
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过路的狼
jing_liang
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2007/11/7 16:49:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你要测多晶硅是什么级别的？电子么？？
一般来说在半导体行业中，大多都用的是agilent的ICP-MS，因为这个行业作者方面的工作很难，而在这方面，agilent有很多应用的资料，另外，这个行业著名的，四川新光硅材料、洛阳中硅、以及四川峨嵋半导体都用的是agilent的仪器，但这些资料都涉及到保密信息，你很难拿到阿！
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huihuicheng912
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2007/11/8 9:04:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ttt2006 发表:
急求：（1）Agilent ICP-MS 7500cs测多晶硅金属杂质方面的方法标准；
　　　（2）PE ICP-OES 5300DV用于金属硅的检测的方法标准
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yiqiyzg
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2007/11/8 17:01:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
both,OK
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