主题:EDXRF定量分析计算过程的基本步骤

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X荧光
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    X射线荧光仪定量分析计算过程的基本步骤为:

1. 标准曲线模型的建立;
2. 在标准曲线模型设定的各元素测量条件下,测量样品,获得测量谱图;
3. 谱处理过程,得到各元素的荧光强度;
4. 基体效应校正过程,在标准曲线模型设定的校正方法计算样品中各元素含量;
      FP法基体效应校正,需要计算光管原级谱分布,可参考附件中的计算程序。

下面详细介绍这四个部分。

关键词:XRF,模型,谱处理,基体效应,定量分析
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FP法基体效应校正,需要计算光管原级谱分布,可参考附件中的计算程序。
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2011/4/14 13:54:11 Last edit by 81029320
jqliuyan
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gamer0021
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载入文件类型只有两个吗?可以用在哪些仪器上还是都可以?
金水楼台先得月
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原文由 gamer0021(gamer0021) 发表:
载入文件类型只有两个吗?可以用在哪些仪器上还是都可以?

你要不直接站内短信问楼主吧
X荧光
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1. 标准曲线模型的建立;

设置一些具体参数
(一)仪器固定参数
   阳极靶材料,射线取出角,Be窗口厚度,样品入射角,样品出射角,光路距离等。这些参数用于FP法基体效应校正。
(二)模型具体参数
   高压,管流,测量时间,滤波片,准直器,气氛条件等,每个模型可根据样品情况自由变化。这些参数用于FP法基体效应校正。
(三)元素测量条件
   设置每个计算元素,谱线和测量条件。
(四)标准样品
   输入标准样品的标准含量,获得实测荧光强度。
(五)标定曲线
   根据标准样品的标准含量和荧光强度,校正基体效应,建立标定曲线。
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X荧光
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2. 在标准曲线模型设定的各元素测量条件下,测量样品,获得测量谱图

   X荧光仪调整到标准曲线模型设定条件下,如高压,管流,测量时间,滤波片,准直器,气氛条件等,待仪器稳定,根据各元素测量条件,测量待测样品,获得测量谱图。
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