主题:【分享】微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

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瞬渺科技
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科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。

表征透明/半透明三维形貌
Ø  测量厚度从几纳米到几十微米
Ø  可测最高三层透明薄膜
Ø  测量薄膜折射率
Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz)
    主要应用
北京大学                          搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能
天津大学                          微结构表面形貌和运动特性测量
华中科技大学                  微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试
清华大学                  透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等

•        超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试
配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能
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m3231228
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您好,请问这种测试使用什么仪器?厂家联系电话是什么?有没有仪器的详细资料。谢谢
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