主题:【第十三届原创】去蔟电压和裂解电压

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去蔟电压和裂解电压

我们在仪器社区经常看到版友对AB质谱的参数DP电压和CE电压产生疑惑,例如“标准里是去蔟电压,而仪器需要填的是裂解电压,这不是一回事呀,可如何是好”、“去蔟电压一般设置多大合适?裂解电压呢?”今天我们为大家详细的总结和梳理三重四级杆质谱仪上DP电压和CE电压的含义及工作原理。

DP电压是AB家质谱仪在设置质谱电压条件时需要摸索的一个重要电压,DP电压即Declustering Potential,通常我们称之为去蔟电压或接蔟电压,其字面含义就是将聚成团或簇的分子、离子驱散开,该电压是设置在离子源内部喷针头上,这样更适合分子电离成离子,减少分子聚团或聚簇对离子化产生的影响,主要是影响离子进入质谱的速度。锥孔电压高,离子速度快,离子损失小,检测灵敏度高。反之则相反。过高的锥孔电压会增加离子间的碰撞,引起源内裂解,产生碎片离子。通常再25-70V之间优化。低分子量选用低电压,高分子量选用高电压。在我们平常使用中发现API4000的接蔟电压一般为80以下,API5500的接蔟电压要高于API4000,一般100左右。将接蔟电压优化好后,可将同样浓度的目标物的响应提高10-20倍。见下图。



CE电压是AB质谱仪在设置质谱电压条件时需要摸索的一个重要电压,CE电压即Collision Energy,通常我们称之为裂解电压或碎裂电压,其字面含义就是将带电离子施加电压,使易脱落的结构掉落,属于质谱的二级碰撞池里的碰撞电压了,这是为了使母离子经碰撞产生最优的子离子而设的参数,一般某个碎裂电压可产生多个碎片离子,而产生多个碎片离子的原因可能是相同母离子数的离子太多,造成对我们目标物定性及定量的干扰。因此我们在摸索质谱电压条件时,最难的部分其实是利用Chemdraw画出易脱落的碎片后,预知碎片离子的分子量。一般我们认为五环结构易开裂、醚键或酮键更易断裂,见下图。在摸索碎片时,如果想获得低分子量的结构断裂,那么碎裂电压可设置在10-25V内,如果想获得高分子量的结构断裂,那么碎裂电压可设置在30-50V内。寻找碎片离子也可以查阅文献报道,但母离子是加合的分子量,我们认为该结构不稳定,建立的方法学可能会受到影响。

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不同品牌液质这两个名称叫法有差异,A家前端叫源内碎裂电压,后面的叫碰撞气能量。
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