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主题：【已应助】在做ICP-OES相关测试方法设备分析不确定度报告时，对于设备的B类评定，是采用设备的示值误差还是使用设备的允差？欢迎讨论交流？

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承之
dacaoyu
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2020/9/23 8:35:13 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 JOE HUI(xurunjiao5339) 发表: 会涉及到一些影响因素
icp测试方法中经过设备引入的是校准曲线和多次测量不确定度，icp的参数理论上讲是不会引入到方法里的！
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JOE HUI
xurunjiao5339
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2020/9/23 10:30:20 12楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 承之(dacaoyu) 发表:icp测试方法中经过设备引入的是校准曲线和多次测量不确定度，icp的参数理论上讲是不会引入到方法里的！
我说的就是你提到的这些影响因素
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承之
dacaoyu
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2020/9/23 10:32:58 13楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 JOE HUI(xurunjiao5339) 发表:我说的就是你提到的这些影响因素
这些因素都跟设备没关系呀
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JOE HUI
xurunjiao5339
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2020/9/23 13:10:42 14楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 承之(dacaoyu) 发表:
这些因素都跟设备没关系呀
好像被老师越带越偏了
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tang566
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2020/9/25 13:19:56 15楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果有校准，用校准报告的扩展不确定就好。
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手机版： 在做ICP-OES相关测试方法设备分析不确定度报告时，对于设备的B类评定，是采用设备的示值误差还是使用设备的允差？欢迎讨论交流？
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