主题：请问无液氮能谱仪跟一般的能谱仪有什么不一样啊？

到目前为止还没见识过能谱呢
单位有一台SEM,没配能谱

原文由 tao______ 发表:
人气真的不旺哦，大家都把玉藏起来了？看来我只能继续抛砖了，OK ，再请教一个关于SDD探测器的问题：
能量分辨率，请问任大侠，最新的SDD探测器的分辨率是否真的能够达到125ev？谢谢了

看起来很简单的问题，其实大不然，我认为四个主要原因导致了这个革命性的业界新指标125EV， 所有 SILI探头的分辨率都是和死时间和输入计数率绑在一起推出的， 只有这个  BRUKER的  XFLASH SDD探头可以不计 死时间和 计数率的影响， 这里  BRUKER还是很谦虚的， 他们说从0到100KCPS分辨率可以保证在125EV不变。
四个原因
1， SDD硅片的电子空穴对成形时间短， 从 X射线辐射到达 SDD芯片的有效检测区域，(XFLASH4010型是 10平方毫米，  最新推出的    4030型是30平方毫米，  4040型就是  QUAD 是4乘10平方毫米，)这个事实直接导致了X射线脉冲成形事件的缩短，所以  脉冲堆积率就会大大地降低，叫PILE UP REJECTION，死时间可以被控制的很小，    硅片的误操作率由此大大地降低，保证了稳定的高分辨率。

2，SDD芯片和 场效应晶体管  FET合二为一，电子学上两个原件的电容大大地减低，导致了脉冲成形时间的缩短，也就是保证了高速的脉冲处理速度，

3，FET被放置在    水滴状SDD芯片的尖端部位，    FET电子原件远离X射线辐射，降低了噪音的影响。

4， 专利脉冲复位技术，在一定时间内定期复位X射线脉冲，保证了脉冲处理的准确性。

上传一张脉冲复位图示，希望可以帮助理解


上传一张图，可以看出SDD对比  SILI的分辨率分别

这里我补充一下
业界目前通行的标准是133ev，从133到125提升了8个ev，这8个ev的意义真的非同凡响，请看下图：C元素的分辨率提升了17个ev，这就意味着对SDD探测器轻元素分辨率不佳的说法将成为笑谈，SDD真正意义上全面超过了Si（Li），因此说能量分辨率提升到125EV是里程碑式的一点也不过分，注定了SDD将成为业界新的标准。感谢任大侠的详细回复。

原文由 renxin 发表:
看来楼上还不太了解无液氮能谱仪。目前最先进的是德国RÖNTEC X-射线能谱仪，已是第三代产品了，无论是性能还是技术及稳定性都是领先的。RÖNTEC提供用于电镜的能谱微分析一个全新的技术，这个技术，就是已知的SDD，不要求用液氮来操作，软件就可用来分析各种样品，也不要求使用标准样品进行定量。
这个系统最具创造性的部分是RONTEC无液氮探测器，它非常小和轻但又具有很高的技术性能。这个探测器的作用面积即所谓的硅漂移二极管(SDD)，它描述一个完整的阳极芯片和Peltier元件。由于这个设计，阳极的容量极小但允许在更短的成形时间内获得更高的能量分辨率。也由于这非常小的SDD的全部的容量和非常短的电子成形时间，探测器能在极高的记数率下运转(<1.000.000cps)，和传统的Si(Li)探测器相比，这个结果在速度上有了极大改进，能谱采集(快五倍)，面分布图像采集(至少快十倍)，最好的能量分辨率(127EV) -- 是不能和世界上任何 Si(Li) 系统相比的(EDAX SDD 探测器，150eV, Mn Ka, 1000cps)。另一优越性是极快的数秒内的制冷时间，这对最终用户非常实用(不要求使用者在不用时保持设备运转)，非常适合从碳起分析轻元素。
RÖNTEC EDX系统软件达到了新的技术水平。此软件不仅可以分析表面光滑样品，而且也可分析表面粗糙样品、薄层样品、块状样品和颗粒样品，它提供了预先确定的分析程序(仅一个点击)，但使用者也可自己设计程序，将测量和在线帮助等综合在一起，可提供任何EDS问题的解决方法。

ZZ朋友的商人之談我早就想問上兩句

1﹐ 探测器能在极高的记数率下运转(<1.000.000cps)，請問在這個計數率下﹐能譜的解析度肯定不是127EV了﹐那么是多少呢

2﹐請問我要是想高速處理輕元素分析的時候﹐計數率還可以達到1﹐000﹐000CPS嗎

以前自己的质疑现在自己找到答案了。

好像该结贴了 呵呵

原文由 sshlxf 发表:
好像该结贴了 呵呵

好像味道很酸啊
不过说实话    BRUKER的能谱仪要比  OXFORD的同类产品技术领先十年，至少，业界还没有谁能够比肩，难怪您很酸

原文由 RENXIN 发表:

原文由 sshlxf 发表:
好像该结贴了 呵呵

好像味道很酸啊
不过说实话    BRUKER的能谱仪要比  OXFORD的同类产品技术领先十年，至少，业界还没有谁能够比肩，难怪您很酸

布鲁克的电制冷能谱技术独步天下。业内的确没有能和他相比肩的产品，正是冲着布鲁克这么好的一个产品，我才毫不犹豫的加入布鲁克，负责中国地区能谱的销售，希望能把最好的产品介绍给中国用户，请大家多多支持。

布鲁克SDD透射电镜能谱XFLASH4030 , 30mm^2有效探测面积，最高输入计数1000000cps,无需SHUTTER保护。
总结了一下透射电镜目前的液氮制冷Si（Li）晶体的能谱仪存在的不足，如下：
1.需要消耗液氮，每周两次，透射的能谱位置较高，添加液氮非常不方便。
2.由于透射能谱大都水平安装，大家都知道能谱加满液氮重量非常大，因此能谱底座需要支架支撑。
3.Si（Li）探测器对于输入信号有严格要求，信号强了一般>10000cps，快门会自动关闭，因此做透射电镜能谱的时候需要寻找薄区，套光阑，往往做一个样需要话很长的时间去调整测试条件。
4.快门装置易损坏，不是很稳定。
5.死时间，透射电镜一般信号都很强在能谱分析的时候会死时间很大效率低。
6.对于高分辨电镜，液氮灌里的极小的冰块也会产生很大的噪音，造成图象震颤。
7.分辨率，Si（Li）的分辨率一般在1k~3kcps的低输入计数下测量，分辨率标准是138ev,好一点的晶体可以达到133的标准。
如果能有一款电制冷的SDD透射电镜能谱，那好处是显而易见的，如下：
1.无需液氮消耗，无需任何消耗品，当然电是需要的
2.电制冷的SDD探测器仅2.5公斤左右，小巧，美观，无需支架，不会造成镜筒倾斜。
3.最大的好处是SDD电制冷能允许高达1000，000cps的输入计数，因此在做能谱分析的时候无需苦苦寻找适合分析的薄区。
4.因为允许1000000cps的输入计数，因此无需快门自动保护，减少了易损的机械部件，当然也就更稳定了。
5.由于采用SDD晶体加上专门定做的高速信号处理器，死时间大大减少，效率提高很多。
6.无需任何冷媒和机械制冷装置，因此不会产生震动，非常适合高分辨电镜。
7.分辨率，SDD电制冷透射能谱的分辨率保持在133ev以内，测试条件是150,000cps以内的任何计数下。
综上，如果价格相差不是特别悬殊的情况下，您会选择电制冷的能谱吗？强调一下，目前只有布鲁克一家能提供电制冷SDD透射电镜能谱，电制冷能谱布技术布鲁克处于绝对领先地位。