主题：【讨论】质谱分析器开“家庭会议”啦，欢迎各位前来参加~~

大家都应该听过Q-TOF吧 。我感觉这款仪器不错，安捷伦和沃特斯公司的工程师都讲过。

原文由 shuiqi 发表:
请问，质谱电离源今后的发展方向有哪些？

如果单就三重四极杆的发展趋势而言，肯定是朝着灵敏度越来越高的方向来发展，他们可能采用不同的设计来改善离子化方式，通过改变四级杆的设计来提高灵敏度等。

先进来学习一下,
公司现在还没有买质谱.不过以后肯定会买的.

新手一个，刚刚接触，实验室有个agilent的液相和waters的质谱，组成了液质
现在处于调试阶段，有点抓狂……

我是搞业务工作的，对检测不是很了解，但我知道气质只能定性不能定量，对气相色谱检测出的超标样品可以加以确认。

俺啥也不会，就用气质做了实验，现在一大堆的图不会解析，根据数据库找的都不对。唉，那位能帮我解啊，不是偷懒，实在是时间紧张且基础太差！！

离子探针质谱分析器

离子探针质谱分析器测量固体表面微区组成的一种质谱分析仪器。利用聚焦好的一次离子束作为“探针”，轰击固体表面溅射 出原子及分子的二次离子，由质谱仪检测其质量电荷 比，并显示离子图象。分析从氢到铀的所有元素及其同 位素。 类型离子探针按成象功能和工作方式分成以下 两类。 ①直接成象型。又称离子显微镜。由R.卡斯泰 (Castaing)和G.斯洛齐安(Slodzian)于1962年首先 研制成功。二次离子光学系统以保持离子在固体表面上 原来的空间相对位置不变的形式传输离子信息，由“物” 上各点发射的离子同时投射在荧光屏上，形成离子的分 布图象。这种仪器采用较大的一次离子束，空间分辨本 领与一次离子束径无关。质量分离是由二次离子滤器起 作用，改变磁场强度可以改变滤过的离子种类，从而获 得不同元素同位素的离子图象，成象所需时间短。代表 产品有IMS一300、IMS一3f和IMS一4f。 ②扫描成象型。由H.利布尔(Liebl)和R.F.K. 赫佐格(Herzog)协同美国地球物理公司于1963年首次 研制成功。利用一次离子光学系统将一次离子束在固体 表面上聚焦成很小的斑点，并由栅扫描器输出两种频率 的锯齿波，加在一次离子束系统和显象管的两对正交偏 转板上，同时控制一次束在固体上以及电子束在荧光屏 上进行栅扫描。由于一次离子束和电子束是同步扫描 的，所以在荧光屏上便显示出固体扫描区内发射离子的 分布图象。代表产品有LT一IA、ARL、IMA一2和 IMA一3。 分析应用离子探针已成为材料科学研究领域中的 一种重要分析工具，其分析应用可以归纳为4个方面。 ①整体分析。指消耗较大物质体积的分析，其结果 代表分析体积内组分的平均浓度。微量成分分析着重提 高检测灵敏度，而微区分析则注重微区分辨本领。前者 对半导体材料中硼、磷、砷杂质的检测灵敏度可达10‘“ 一10‘“原子/立方厘米;后者可分析2一8微米油烟粒子 中20多种元素浓度，尤其是H、Li、B、C、0等超 轻元素。 ②面分析。研究样品表面的组成或成分的横向分 布，包括离子图象观察、表面分析和表面浓度分布。离 子图象可以提供样品表面元素浓度分布和化合物分布的 信息，表面分析是研究分析面内总的组成特征。 ③纵深分析。将质谱仪调到检测特定的二次离子条 件下，利用一次离子束的剥蚀作用，记录二次离子强度 随剥蚀时间的变化，从而得到自固体表层开始，自浅而 深逐层测定元素浓度分布。 ④立体分析。面分析与纵深分析相结合的分析。采 用两种方式:利用离子图象;逐层逐点分析。

我们这里没有质谱仪，正在学习，想了解一下质谱

在学校用过气相，
不过已经好久了，
来学习的。

轻轻问一下,质谱一般主要都是应用在那些领域啊