主题：每周一问2：恐怕谈及电镜这是最经典的话题：形貌和成分

原文由 semuser 发表:
单纯的形貌像是可以得到的，用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，但图像起伏效果显得比较圆滑，真实度不如二次电子像；
浅层像，我理解是低加速电压二次电子像；
纯的成分像有点麻烦，背散射探头的成份像模式依然含有形貌信息，好像只有能谱的面分析时有纯的成分像。
老大，何时有答案？

原文由 semuser 发表:
单纯的形貌像是可以得到的，用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，但图像起伏效果显得比较圆滑，真实度不如二次电子像；
浅层像，我理解是低加速电压二次电子像；
纯的成分像有点麻烦，背散射探头的成份像模式依然含有形貌信息，好像只有能谱的面分析时有纯的成分像。
老大，何时有答案？

原文由 shxie 发表:
没有任何形貌指得是光滑膜表面吧？这个要观察形貌像也比较麻烦，需要把样品台倾转一下的吧。
30Kv和1Kv的二次电子像差别在于信噪比吧，质感不同啊，我一般都用高电压，低电压太痛苦了，不过你用的场发射感觉差别不大也正常。

原文由 renxin 发表:
是的，没有形貌就是平板一块，  不过倾斜样本只能增加信号强度， 平板一块还是平板。
是的， 高压SE像噪音较低压低， 不过SE信号强度基本一样呦。

原文由 semuser 发表:
高低加速电压的二次电子像还是有区别的，看纳米管、薄膜等较薄样品时很明显，加速电压一高，可看到样品下面的东西。

原文由 SeanWen 发表:

原文由 renxin 发表:
是的，没有形貌就是平板一块，  不过倾斜样本只能增加信号强度， 平板一块还是平板。
是的， 高压SE像噪音较低压低， 不过SE信号强度基本一样呦。

对凹凸不平的表面从上往下看可能看不出高度与深度，倾斜后会比较明显，曾经在网上看过这样的资料。KEYENCE的说明书上说在看表面细节的时候最好用较低的加速电压，这些细节会在大加速电压下损失掉，我试过一下，但好像没凑效。

原文由 SeanWen 发表:
对凹凸不平的表面从上往下看可能看不出高度与深度，倾斜后会比较明显，曾经在网上看过这样的资料。KEYENCE的说明书上说在看表面细节的时候最好用较低的加速电压，这些细节会在大加速电压下损失掉，我试过一下，但好像没凑效。

原文由 renxin 发表:
不过据我的经验，  你越能忍受噪音，    坚持工作， 最后得到的  图像就越 清晰。
这种低信噪比的情况  在高倍照相的时候也会出现， 原因不一样呦。