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原文由 guanjun19860820 发表:原文由 semuser 发表:
单纯的形貌像是可以得到的，用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，但图像起伏效果显得比较圆滑，真实度不如二次电子像；
浅层像，我理解是低加速电压二次电子像；
纯的成分像有点麻烦，背散射探头的成份像模式依然含有形貌信息，好像只有能谱的面分析时有纯的成分像。
老大，何时有答案？
"用半导体式背散射探头的形貌像模式可以得到样品单纯的起伏像，也就是形貌像，"
半导体式背散射探头收集的是什么信号?纯的SE?信号?
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