主题:【求助】关于X荧光定量分析中的基本参数法如何实现

浏览0 回复22 电梯直达
markon_yan
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原文由 中石(midstone) 发表:
忘了,本人的联系方式1 3 9 2 6 5 6 3 7 5 6, 2 6 0 6 6 4 5 6


EMAIL 啊,想好好学习下.平时有用,但是平实际经验,而已.
alinxia
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要让基本参数法用于实际测定,主要难点有二点:计算理论强度;重叠谱的解析。不知楼主是搞科研呢,还是仅仅感兴趣。这可不是一二天就能实现的
shujun0121
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huier1223
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原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:
个人觉得,先把基础的应用知识弄明白了,再去研究更深一些的。否则有些本末倒置了。基本参数法没有想像中的那么简单。


很有道理,先要把基础的东西搞懂。
记得前年和一位清华的博士谈论基本参数法,说得我很无语,我只好说请他先看看什么是基本参数法。
金水楼台先得月
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原文由 huier1223(huier1223) 发表:
原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:
个人觉得,先把基础的应用知识弄明白了,再去研究更深一些的。否则有些本末倒置了。基本参数法没有想像中的那么简单。


很有道理,先要把基础的东西搞懂。
记得前年和一位清华的博士谈论基本参数法,说得我很无语,我只好说请他先看看什么是基本参数法。

他是怎么说的呢。
bennaiyou
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基础类的内容,需要经历多了,理解才深刻,否则只能是过雨烟云。
lxp0729
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原文由 中石(midstone) 发表:
楼主你好。
本人从事过能量色散XRF的研究,已解决了基本参数法、薄膜基本参数法全部技术要点,包括:谱线分数、跃迁因子、荧光产额、质量吸收系数、原级X射线分布等、迭代收敛等。这些都已形成成熟的软件。
至于3楼的疑问,可以这么说:虽然FP法是理论计算,其结果确实比不上与标样对比。但用FP进行一些缺乏标样时的半定量分析完全是可行的,如果用FP法在与标样结合,则分析结果可以超过标样法。本人的软件,FP法无标样分析能达到0.01%级别的分析精度,相对分析误差主、次元素可达3%以内,微量元素可达10%以内。

如果有兴趣了解的,可以与本人联系。
你好,我想请问一下,您做过微量硅的荧光测试吗,有机物里的杂质硅,ppm级别的?非常感谢!!
难得糊涂
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北京安科慧生
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原文由 lxp0729(lxp0729) 发表:
你好,我想请问一下,您做过微量硅的荧光测试吗,有机物里的杂质硅,ppm级别的?非常感谢!!
你好!我们公司研制MWD XRF和HS XRF,对有机物中硅检出限达到1PPM,有兴趣可以保持接触!
北京安科慧生
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原文由 lxp0729(lxp0729) 发表:
你好,我想请问一下,您做过微量硅的荧光测试吗,有机物里的杂质硅,ppm级别的?非常感谢!!
你好,我们研制出HS XRF 与MWD XRF能够将硅的检出限降低到1ppm,只有基于双曲面弯晶的X射线荧光光谱仪技术才能完成超低轻元素含量的检测
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