原文由 中石(midstone) 发表:你好,我想请问一下,您做过微量硅的荧光测试吗,有机物里的杂质硅,ppm级别的?非常感谢!!
楼主你好。
本人从事过能量色散XRF的研究,已解决了基本参数法、薄膜基本参数法全部技术要点,包括:谱线分数、跃迁因子、荧光产额、质量吸收系数、原级X射线分布等、迭代收敛等。这些都已形成成熟的软件。
至于3楼的疑问,可以这么说:虽然FP法是理论计算,其结果确实比不上与标样对比。但用FP进行一些缺乏标样时的半定量分析完全是可行的,如果用FP法在与标样结合,则分析结果可以超过标样法。本人的软件,FP法无标样分析能达到0.01%级别的分析精度,相对分析误差主、次元素可达3%以内,微量元素可达10%以内。
如果有兴趣了解的,可以与本人联系。