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ID:gslser
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原文由 北京安科慧生(SH103380) 发表: 你好,我们研制出HS XRF 与MWD XRF能够将硅的检出限降低到1ppm,只有基于双曲面弯晶的X射线荧光光谱仪技术才能完成超低轻元素含量的检测
ID:SH103380
原文由 gslser(gslser) 发表: 是单做Si吗?有没有量产?你是哪个行业,具体什么需求?