主题:EDXRF定量分析计算过程的基本步骤

浏览0 回复17 电梯直达
X荧光
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3. 谱处理过程,得到各元素的荧光强度

  谱处理的主要目的是获得待测元素的特征谱线的净峰面积,即净强度。在测量谱中含有待测元素的K系、L系、M系线,以及合峰、逃逸峰、康普顿散射峰等,此外,还需要考虑背景的影响。
  对于实测谱图,基本计算步骤为:
(一)扣背景
(二)寻找靶材峰及其康谱顿峰
(三)寻找待测元素的峰,寻峰过程中,应该解决元素不同谱线间谱线重叠的影响。
X荧光
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4. 基体效应校正过程
  
  由标准曲线模型设定的校正方法计算样品中各元素含量,基体效应校正方法有几种,经验系数法,基本参数法和理论影响系数法。
  经验系数法最常用,需求标样最多,计算结果最可靠;
  基本参数法对标样的数量没有要求,通常在没有标准样品时使用,计算精度取决于样品的组成及操作者的熟练程度,计算量巨大。
  理论影响系数法介于二者之间。
shujun0121
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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
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这个没有密码怎么上啊,你有吗?
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这个没有密码怎么上啊,你有吗?

我是从资料里下载的。具体你需要问楼主。你可以站内短信问他
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2011/4/16 9:26:53 Last edit by albert800922
仆人
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金水楼台先得月
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步骤很容易,就是在做干扰校正时,如何选择校正元素,比较纠结。
sidianmu
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