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ID:allenren
行业:其他
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ID:minta
原文由 allenren(allenren) 发表:大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界?如果不能,用eels可否做到成分和厚度的分析?eels的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!
ID:chinazjhzzl
原文由 minta(minta) 发表:原文由 allenren(allenren) 发表:大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界?如果不能,用eels可否做到成分和厚度的分析?eels的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!这个没有问题的,我们经常做Sn球的自然氧化层,不过TEM模式可能不太清楚,STEM很清楚的,实在不行可以来个线扫.qq1293380247
原文由 chinazjhzzl(chinazjhzzl) 发表:如果氧化层比较厚的话(几个nm)用EFTEM就可以做出来, 如果氧化层比较薄(几个原子层)那么就需要STEM-SI线扫分析了, 前提是STEM分辨率足够好