主题:【求助】请问TEM的断面分析可以得到金属表面的氧化层厚度吗?

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allenren
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大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界?如果不能,用eels可否做到成分和厚度的分析?eels的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!
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minta
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原文由 allenren(allenren) 发表:
大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界?如果不能,用eels可否做到成分和厚度的分析?eels的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!

这个没有问题的,我们经常做Sn球的自然氧化层,不过TEM模式可能不太清楚,STEM很清楚的,实在不行可以来个线扫.qq1293380247
chinazjhzzl
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如果氧化层比较厚的话(几个nm)用EFTEM就可以做出来, 如果氧化层比较薄(几个原子层)那么就需要STEM-SI线扫分析了, 前提是STEM分辨率足够好
chinazjhzzl
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EELS是透射电子,所以只要你的电子束可以透过去,样品多厚 你得到的信息就是多厚的, 如果说空间分辨率的话用EFTEM由于Cc的影响大概在1纳米左右, 如果是用的STEM-SI做高损的话分辨率就取决于STEMprobe的大小, 现在有用probe corrector的做到了化学成分原子级分辨率
allenren
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你的氧化层有多厚啊?
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大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界?如果不能,用eels可否做到成分和厚度的分析?eels的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!

这个没有问题的,我们经常做Sn球的自然氧化层,不过TEM模式可能不太清楚,STEM很清楚的,实在不行可以来个线扫.qq1293380247
allenren
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弱弱的问下:STEM-SI是什么模式?没做过

原文由 chinazjhzzl(chinazjhzzl) 发表:
如果氧化层比较厚的话(几个nm)用EFTEM就可以做出来, 如果氧化层比较薄(几个原子层)那么就需要STEM-SI线扫分析了, 前提是STEM分辨率足够好
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