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XPS及其它能谱仪

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主题：弱弱的问一下,XPS,EDS,XRF的区别?

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zab

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发表于：2006/03/17 10:30:00 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

向各位老师请教了.这三个各自的特点是什么?灵敏度,检测限如何,对比之下,哪个更准确点?有点迷糊了.

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2006/3/25 11:15:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

支持,我也想知道啊~

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tjt710072

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2006/3/25 17:59:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

请各位高人给解释一下啊！！！

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scientific

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2006/3/27 9:36:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

说来话长啊！
XPS主要用来测定“表面”（2-5nm）元素“化学状态”和元素相对含量，“半定量”。重金属的分析下限可以到“万分之几”。
EDS测定样品元素相对含量，“半定量”。定量分析下限和XPS差不多。
XRF可以对样品中元素进行“半定量”，也可以进行“精确定量”。某些元素的分析下限可以达到“PPM”级。
差别还有很多。

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rypryh

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2006/4/21 11:46:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

谢谢了。

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dinosaurwu

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2006/4/23 22:15:00 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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tianxiadiyi81

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2006/5/6 16:19:00 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

好的
谢谢了

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lc7410

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2006/5/18 22:56:00 7楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

xuexiyixia

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wingwinwu

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2006/5/23 14:31:00 8楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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2006/5/24 21:35:00 9楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

XPS，EDS，XRF，三者有较大的区别。XPS主要属于表面分析技术，主要分析表面的元素组分及其价态；EDS和XRF主要分析材料的元素组分，为体组分，使用标准样可进行定量分析，而XPS做出的定量分析为表面组分定量结果；EDS为电镜的附件，需要在真空条件下操作，样品需要导电，优点可进行微区分析，如mapping；XRF无需在真空中进行，样品无需导电，主要用于元素定量分析，如矿物，冶金材料等元素定量分析，一般没有显微分析，即便有此功能，空间分辨率差。XPS能分析价态是它的特色。

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