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主题：【讨论】ICP漂移因数

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依风1986
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发表于：2013/07/15 19:20:52 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
影响仪器漂移因数较多，归根结底主要是基线漂移导致测试参数发生漂移。

１．电气参数的漂移主要是电子元件受温度影响，电子元件的老化，电源的干扰，电压，电流，传感器，仪器

接地（地阻）的可靠性等。

２．光学系统的漂移，光路，光电（倍增）管，ＣＣＤ，光栅狭逢，分光系统等。

３．机械系统的漂移，真空度，光路的机械装置，气路管道及压力，炬管雾化等。

４．软件系统受干扰误判参数，程序染等。

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2013/7/15 19:38:39 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
关键是这个漂移对我们的最终结果有多大的影响呢？
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依风1986
xurunjiao5339
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2013/7/15 19:50:35 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 abcpgf(abcpgf) 发表:
关键是这个漂移对我们的最终结果有多大的影响呢？


影响大啊！如波长漂移，积分区域有问题，结果自然不准。。。。。。。。。。。
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