主题:【新手求助】BGA合金层(IMC)、锡球表面、EDS检测总测出C元素。如何判断是否是干扰?

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p3306078
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BGA合金层、锡球表面、EDS检测总测出C元素
含量一般1-5wt%.基本不超10%。可以判定本体不含有C吗?
当测得C超过多少时,可以判断样品表面含有C?
请指点!!多谢。
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扫描的检测极限为0.1%,你可用Au或其他纯金属测试,看有没有碳。碳是能谱内部结构的组件之一,所以检测结果中有碳是仪器正常的表现。