主题:【已应助】ICP -MS的一点疑惑。

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rr丿
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各位老师新年好!请教各位老师两个问题。
1.ICP-MS 的锥接口,有的仪器采用锥+真空+锥,有的采用锥+锥+锥(三锥),有的采用锥+嵌片+锥,中间那一部分(即真空/锥/嵌片)主要起什么作用?
2.在去除中性粒子干扰方面,基本上是90度离轴或多次离轴。关于多次离轴,第一次离轴理论上就将中性粒子去除了,为什么还要二次,甚至三次离轴呢?
多谢各位赐教。
最佳答案:光哥回复于2020/02/03
1、不管是“采样锥+截取锥”还是“采样锥+截取锥+超截取锥”,采样锥和截取锥之间都会有一个一级真空,这个真空是直接连到机械泵上的,工作的时候这个区域的压力大约是几百帕(各家略有不同)。这里的真空,最直观的一个作用是提供“压力缓降”或者说“压力缓冲”的区域——在采样锥之前是大气压,截取锥/超截取锥之后如果真空阀门打开(例如工作时),那么里面是高真空。大气压1.0E+5和高真空1.0E-4~-5会差10E10,这种情况下如果直接从大气压怼到高真空的话,后面这块会受不了的。

2、理论上一次离轴足够了,但现行情况下,碰撞反应池几乎是标配,往里面通的碰撞气/反应气仍然是中性粒子。所以一般情况下会在碰撞反应池后面再做一次的离轴,以保证足够低的噪声。

大约是这样吧
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mingxiaoyan
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:真有兴趣研究的话,可以在版内搜索    ICPMS Handbook,这本是英文版,虽然挺有年头了,但原理性的东西并非过时,是挺好的一本书
多谢老师,不研究的那么深入了,只是想了解一下。。。。
光哥
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真有兴趣研究的话,可以在版内搜索  ICPMS Handbook,这本是英文版,虽然挺有年头了,但原理性的东西并非过时,是挺好的一本书
光哥
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原文由 rr丿(v3251800) 发表:多谢老师指教。也就是说,在锥接口这部分,无论怎么设计,都是缓冲作用,减轻零部件的负荷;而离轴设计,多次离轴是为了去除碰撞反应池的中性粒子。
这只是一级真空的功能之一。其实无需太过纠结某一个小地方小细节的东西,各家有各家的设计思想,你把Thermo的嵌片拿到其他家机器上没得放,反之把PE的超截取锥放到其他家机器一样也没地方放。看你的实际需求和仪器的整体性能、售后服务等更重要——毕竟对用户来说是“用”机器,不是“研究”机器
rr丿
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:1、不管是“采样锥+截取锥”还是“采样锥+截取锥+超截取锥”,采样锥和截取锥之间都会有一个一级真空,这个真空是直接连到机械泵上的,工作的时候这个区域的压力大约是几百帕(各家略有不同)。这里的真空,最直观的一个作用是提供“压力缓降”或者说“压力缓冲”的区域——在采样锥之前是大气压,截取锥/超截取锥之后如果真空阀门打开(例如工作时),那么里面是高真空。大气压1.0E+5和高真空1.0E-4~-5会差10E10,这种情况下如果直接从大气压怼到高真空的话,后面这块会受不了的。2、理论上一次离轴足够了,但现行情况下,碰撞反应池几乎是标配,往里面通的碰撞气/反应气仍然是中性粒子。所以一般情况下会在碰撞反应池后面再做一次的离轴,以保证足够低的噪声。大约是这样吧
多谢老师指教。也就是说,在锥接口这部分,无论怎么设计,都是缓冲作用,减轻零部件的负荷;而离轴设计,多次离轴是为了去除碰撞反应池的中性粒子。
rr丿
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原文由 wangjstw(wangjstw) 发表:首先觉得,您这个问题侧重于工作原理,或者说侧重于研发方面的考虑。仪器不管怎么设计,都是围绕检测目的展开的。你的锥和离轴两个问题都是如此。咱们这个论坛,侧重于应用,也就是实验室检测,研发方面的人员不能说没有,但肯定是微乎其微的。我们所用的电感耦合等离子体质谱仪这个产品,从创制到市场化的产品,基本都在发达国家,虽说国产化工作也在启动,但我们的研发人员逛应用论坛的,肯定不会多。
多谢老师指教。采购调研的时候,查资料时各厂商的资料总会提到这些,就来论坛请教一下。
光哥
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1、不管是“采样锥+截取锥”还是“采样锥+截取锥+超截取锥”,采样锥和截取锥之间都会有一个一级真空,这个真空是直接连到机械泵上的,工作的时候这个区域的压力大约是几百帕(各家略有不同)。这里的真空,最直观的一个作用是提供“压力缓降”或者说“压力缓冲”的区域——在采样锥之前是大气压,截取锥/超截取锥之后如果真空阀门打开(例如工作时),那么里面是高真空。大气压1.0E+5和高真空1.0E-4~-5会差10E10,这种情况下如果直接从大气压怼到高真空的话,后面这块会受不了的。

2、理论上一次离轴足够了,但现行情况下,碰撞反应池几乎是标配,往里面通的碰撞气/反应气仍然是中性粒子。所以一般情况下会在碰撞反应池后面再做一次的离轴,以保证足够低的噪声。

大约是这样吧
wangjstw
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首先觉得,您这个问题侧重于工作原理,或者说侧重于研发方面的考虑。仪器不管怎么设计,都是围绕检测目的展开的。你的锥和离轴两个问题都是如此。
咱们这个论坛,侧重于应用,也就是实验室检测,研发方面的人员不能说没有,但肯定是微乎其微的。我们所用的电感耦合等离子体质谱仪这个产品,从创制到市场化的产品,基本都在发达国家,虽说国产化工作也在启动,但我们的研发人员逛应用论坛的,肯定不会多。