主题:【已应助】质谱图中纵坐标的相对丰度能反映碎片在分子中组成吗?

浏览 |回复1 电梯直达
carnivore
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
各位好,我之前没有做过质谱方面的检测,有个很基础的问题向大家请教,希望不吝赐教。

我最近合成了一种末端接巯基(-SH)的POSS,分子结构已在图中给出。这个分子包括一个-Si-O-Si-六面体结构(Si8O12,M/z= 416.68)和八条-CH2-CH2-CH2-SH链段(C3H7S,M/z=75.15)。我想问的是,如果测试质谱的话,是否会在谱图中看到我刚才说的那两个碎片峰?如果有的话,碎片峰的相对丰度能够反映它们之间的比例关系吗?具体来说,每一个POSS分子中含有一个六面体结构和八条支链,那么如果假设支链碎片峰的相对丰度是100%的话,六面体的碎片峰的相对丰度是不是就是其八分之一呢?以此类推,是不是质谱图中纵坐标数据给出的相对丰度都能够反映出各碎片在整个分子中的相互比例?此外,如果相对丰度不能反映各自比例的话,有没有哪种质谱信息能够体现这一结果?


为您推荐
carnivore
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
不能吧,丰度和断裂方式有关系的吧,具体是要看哪一个键更容易断裂吧