主题:【已应助】测试Si问题探讨

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PE的 1000G,测试Si,用的He(没有氢气),用了推荐的热焰KED模式,超纯水做空白,以前测试信号值在1500+样子,近期信号值上涨到5000,更换了玻璃雾化室矩管和PFA材质雾化室和铂金矩管,但是信号值还是在5000+,也对大小锥用10.5%的MOS级硝酸进行浸泡冲洗,但是效果不明显,试问:1如何在现行测试条件下有效降低Si的空白信号值,2如果更换了氢气,测试效果上是否有明显好转?
最佳答案:timstoicpms回复于2020/10/09
如何在现行测试条件下有效降低Si的空白信号值

——  动态反应池通入O2,把 28Si 转化为—> SiOH 测45amu,能降低检出限。

现有的1000型号 动态反应池只能通入He,不适合测低含量Si。


起码得 2000B型号,动态反应池 标配三路气体。
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wangjunyu
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你试试买一瓶屈臣氏或者其他牌子的超纯水试试看
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原文由 wangjunyu(wangjunyu1113) 发表:
你试试买一瓶屈臣氏或者其他牌子的超纯水试试看
用了娃哈哈纯净水,密理博的超纯水机的水和国产纯水机的水,结果都差不多
不忘初心
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tuxlin
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重新优化KED参数,在保证Si的灵敏度的前提下,适当提高氦气流速,可降低本底的计数。
timstoicpms
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如何在现行测试条件下有效降低Si的空白信号值

——  动态反应池通入O2,把 28Si 转化为—> SiOH 测45amu,能降低检出限。

现有的1000型号 动态反应池只能通入He,不适合测低含量Si。


起码得 2000B型号,动态反应池 标配三路气体。
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原文由 不忘初心(abcpgf) 发表:
清洗一下离职透镜再试试吧
离子透镜如何清洗?有教程吗?
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原文由 timstoicpms(timstoicpms) 发表:
如何在现行测试条件下有效降低Si的空白信号值

——  动态反应池通入O2,把 28Si 转化为—> SiOH 测45amu,能降低检出限。

现有的1000型号 动态反应池只能通入He,不适合测低含量Si。


起码得 2000B型号,动态反应池 标配三路气体。
型号无法改变,那只能用单一更换氢气试试看抗干扰效果了
光哥
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原文由 p3095727(p3095727) 发表:
型号无法改变,那只能用单一更换氢气试试看抗干扰效果了
建议咨询后再弄,氢气除了比较危险以外,这种模式的调谐和氦气也不一样
timstoicpms
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型号无法改变,那只能用单一更换氢气试试看抗干扰效果了


仪器采购调研不充分。

NexION 1000G  不能测 U Th 的最低端型号

NexION 1000    能测 U Th 的低端型号

NexION  2000 B/C/P/S 型号  是中、高端的
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原文由 timstoicpms(timstoicpms) 发表:仪器采购调研不充分。NexION 1000G    不能测 U Th 的最低端型号NexION 1000          能测 U Th 的低端型号NexION    2000 B/C/P/S 型号      是中、高端的
我测试的是si,u th 没有作为目标测试元素