主题:【已应助】STEM相关参数求解释!

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电镜小学生
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各位朋友,STEM模式中有两个参数,扫描帧数:512*512、Scan Synchronization:External,想问下这两个参数怎么理解呢?
最佳答案:m3033883回复于2020/11/20
我的理解:扫描信号由外部环境提供。比如你自己搞一个信号发生器控制线圈。
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m3033883
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我的理解:扫描信号由外部环境提供。比如你自己搞一个信号发生器控制线圈。
葛华龙_中科院金属所
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至于scan frame是512*512或者1024*1024,这个很好理解啊,是说整张图片按照多少个像素点进行扫描的意思,自然是像素点越密越清楚,对应的就是所获得图片的分辨率高低!至于扫描同步模式internal/external,应该是指同步的时候是参考外部信号还是内部信号,比如每一行扫描的时间和移动的位置是由外部信号触发(这是个人理解了,也可能不是那么回事,真实原理可能要专业搞研发的人才讲得明白了)!
DH小麦
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电镜小学生
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原文由 葛华龙_中科院金属所(m3002960) 发表:
至于scan frame是512*512或者1024*1024,这个很好理解啊,是说整张图片按照多少个像素点进行扫描的意思,自然是像素点越密越清楚,对应的就是所获得图片的分辨率高低!至于扫描同步模式internal/external,应该是指同步的时候是参考外部信号还是内部信号,比如每一行扫描的时间和移动的位置是由外部信号触发(这是个人理解了,也可能不是那么回事,真实原理可能要专业搞研发的人才讲得明白了)!


谢谢您的解释!

我之前听一个老师说过,STEM模式下电子束移动的距离越小,得到的图像细节越多(前提是电子束的probe也很小)。

如果两张图片用的都是同样的电子束移动距离,选择扫描的像素点不同,那最终得到的图像的面积应该是不同的,而两张图片的分辨率应该是一样的吧;如果两张图片扫描的样品面积是相同的,那在选择扫描的像素点时,像点多的话就意味着电子束移动的距离就小,这种情况下,像点多分辨率就高。

可以这样理解吗?
电镜小学生
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原文由 DH小麦(Ins_20102dbe) 发表:
Int/External是过滤STEM主频干扰用的
谢谢您的解答!但是不是很明白,可以详细解释下吗?
葛华龙_中科院金属所
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原文由 电镜小学生(Ins_a0214fc5) 发表: 谢谢您的解释!我之前听一个老师说过,STEM模式下电子束移动的距离越小,得到的图像细节越多(前提是电子束的probe也很小)。如果两张图片用的都是同样的电子束移动距离,选择扫描的像素点不同,那最终得到的图像的面积应该是不同的,而两张图片的分辨率应该是一样的吧;如果两张图片扫描的样品面积是相同的,那在选择扫描的像素点时,像点多的话就意味着电子束移动的距离就小,这种情况下,像点多分辨率就高。可以这样理解吗?
可以这么理解,在同样的放大倍数下,肯定是扫的时候点的移动距离越短清晰(电子束也够小),每个点扫的时间越长越清晰(不考虑辐照损伤和漂移的前提下)不过探头本身也有限制,比如探头可能它只能扫2024*2024像素点!
葛华龙_中科院金属所
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原文由 电镜小学生(Ins_a0214fc5) 发表: 谢谢您的解释!我之前听一个老师说过,STEM模式下电子束移动的距离越小,得到的图像细节越多(前提是电子束的probe也很小)。如果两张图片用的都是同样的电子束移动距离,选择扫描的像素点不同,那最终得到的图像的面积应该是不同的,而两张图片的分辨率应该是一样的吧;如果两张图片扫描的样品面积是相同的,那在选择扫描的像素点时,像点多的话就意味着电子束移动的距离就小,这种情况下,像点多分辨率就高。可以这样理解吗?
你说的同样的移动距离不同像素点扫描,得到的图片空间分辨率自然是一样的!
电镜小学生
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原文由 葛华龙_中科院金属所(m3002960) 发表:
可以这么理解,在同样的放大倍数下,肯定是扫的时候点的移动距离越短清晰(电子束也够小),每个点扫的时间越长越清晰(不考虑辐照损伤和漂移的前提下)不过探头本身也有限制,比如探头可能它只能扫2024*2024像素点!
好的,感谢解答!!!