主题:【已应助】请教一下扫描电镜面扫图问题

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Insm_991b51a
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我对涂层中的碳化钨颗粒进行面扫描,按道理颗粒里面都是W和C元素,周围基体里主要是其他元素,但是我做完后发现Si元素含有很多,几乎和W元素一样了
最佳答案:砂锅粥回复于2021/01/21
楼主是否用了含硅的材料去磨的这个样品?碳化钨合金是没有添加硅这个元素的。另外,图1的比例尺是100μm吗?碳化钨的颗粒不会达到200~300μm的。
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砂锅粥
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楼主是否用了含硅的材料去磨的这个样品?碳化钨合金是没有添加硅这个元素的。另外,图1的比例尺是100μm吗?碳化钨的颗粒不会达到200~300μm的。
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2021/1/21 9:58:24 Last edit by czcht
Insm_e9a6444c
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W元素的Mα特征X射线的能量为1.7744Kev ,Si元素Kα特征X射线的能量为1.7397,它们之间只差三十几个电子伏特,不容易分辨出来。
可以通过处理软件确认下,到底有没有。另外提高采集时间。