主题:【已应助】XRF 能量色散型X射线荧光光谱仪的样品测试次数是可以设置的吗

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Insp_d2f00b5e
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没做过测试,但现在想了解一下怎么计算XRF的检出限,选用最简便的方法:单次测定空白样品不少于7次,计算标准偏差,检出限=3倍标准偏差;MDL=(8-10)倍LOL。

这个方法我是理解;但空白样品测试的时候给出的值是ND,怎么算标准偏差呀?设备虽然会给出每一次测定的SD,难道是把其次测定的SD合成吗?;还是说可以设置测试次数?我们用的岛津的设备,测试结果给出的是三次测定的平均值,那是不是可以设置测试7次?怎么设置?

请教各位老师!
最佳答案:启航2021回复于2021/02/27
可以根据单位含量计算计数率,背景技数率,背景计数时间来计算。这一个表征仪器的性能。

也可以选用系列校准样品中含量最低的组分,各重
复测定多次次并计算标准偏差(SD),以其3倍标准偏差的平均值计算得到各组分的方法检出限(LD).用这种方法计算得到的方法检出限,考虑了样品制备、仪器和计数统计所带来的误差,表征方法的更实用意义.
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可以根据单位含量计算计数率,背景技数率,背景计数时间来计算。这一个表征仪器的性能。

也可以选用系列校准样品中含量最低的组分,各重
复测定多次次并计算标准偏差(SD),以其3倍标准偏差的平均值计算得到各组分的方法检出限(LD).用这种方法计算得到的方法检出限,考虑了样品制备、仪器和计数统计所带来的误差,表征方法的更实用意义.
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测试结果给出的是三次测定的平均值,把这一个平均值作为一次独立测量结果。

取低含量标准试片重复多次测量结果,然后计算标准差,来计算检出限和测定下限。

如果考虑制片因素(熔片,或者压片),就是从制片开始,制取多个试片,独立重复测量多次。