原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:求教大V,你说的这个IEC校正系数在测试过程中持续变化具体怎么理解?是每个样品基体差别造成?
ICP-OES相对ICP-MS的优势是耐盐程度高(大家都是同心雾化旋流雾室也是这样),受基体干扰影响小。
—— 我这儿 5110 就配了氩气加湿器,即便这样,测试过程中 同心雾化器的背压也是在持续增长的。
不知道是否真的测过铍?铍的光谱响应还是蛮高的,你说1ppb做不了还可以,20ppb的强度是可以响应的。
—— 我没用 ICP-OES测Be,微量元素都是用 ICP-MS,仪器术业有专攻。
针对楼主所说的这个测试,光谱干扰是否使用了IEC去除?
—— 问题是 IEC校正系数在测试过程中是会变化的啊!
就像 ICP-MS测试微量元素时,135Ba16O 干扰 151Eu,137Ba16O 干扰 153Eu,虽然可以用过 BaO/Ba产率系数去扣除干扰贡献,但测试过程中BaO/Ba产率系数是会变化的。