主题:【分享】土壤中无机污染物的测试ICP-OES法

浏览0 回复22 电梯直达
timstoicpms
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原文由 星光不负赶路人(Ins_364bc555) 发表:
土壤其实OES比MS更实用  MS适合食品更多一些


那是因为 国内实验室都是从 ICP-OES 逐步升级到 ICP-MS

像我用了九年 ICP-MS,才开始去购置 ICP-OES。
timstoicpms
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原文由 砂锅粥(czcht) 发表:
楼主好像喜欢发帖而不喜欢回帖。
他是钢研纳克厂家的人吧
砂锅粥
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原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
他是钢研纳克厂家的人吧


不管是不是纳克的,也应该跟进一下帖子情况,回回帖吧。

我看了楼主发的10几帖主贴,貌似是文章搬运工?
缘来如此
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其实ICP测试铅不太合适吧,这个干扰特别的大,准确性很难保证的。
JOE HUI
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原文由 缘来如此(fangchength) 发表:其实ICP测试铅不太合适吧,这个干扰特别的大,准确性很难保证的。
针对楼主这种土壤材质会有
yejingyan
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学习ICP-OES
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有会使用安捷伦5800的吗  5100也行!质控图gss-3测不出来。
katelan
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原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
ICP-OES相对ICP-MS的优势是耐盐程度高(大家都是同心雾化旋流雾室也是这样),受基体干扰影响小。

——  我这儿 5110 就配了氩气加湿器,即便这样,测试过程中 同心雾化器的背压也是在持续增长的。

不知道是否真的测过铍?铍的光谱响应还是蛮高的,你说1ppb做不了还可以,20ppb的强度是可以响应的。

——  我没用 ICP-OES测Be,微量元素都是用 ICP-MS,仪器术业有专攻。

针对楼主所说的这个测试,光谱干扰是否使用了IEC去除?

——  问题是 IEC校正系数在测试过程中是会变化的啊!

就像 ICP-MS测试微量元素时,135Ba16O 干扰 151Eu,137Ba16O 干扰 153Eu,虽然可以用过 BaO/Ba产率系数去扣除干扰贡献,但测试过程中BaO/Ba产率系数是会变化的。
求教大V,你说的这个IEC校正系数在测试过程中持续变化具体怎么理解?是每个样品基体差别造成? 
timstoicpms
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原文由 katelan(Ins_23d01c01) 发表:
求教大V,你说的这个IEC校正系数在测试过程中持续变化具体怎么理解?是每个样品基体差别造成? 


(1)测试过程中 等离子体工作状态是在变化的(Agilent 5100 5110 5800 高级版软件可以实时监控Ar的发射谱线强度)

(2)不同样品的基体有差异(比如有的土壤是 Na Ca Al基体,有的是Mg Ca Fe基体),酸度差异也值得考虑(但酸度差异较小)
katelan
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原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:

(1)测试过程中 等离子体工作状态是在变化的(Agilent 5100 5110 5800 高级版软件可以实时监控Ar的发射谱线强度)

(2)不同样品的基体有差异(比如有的土壤是 Na Ca Al基体,有的是Mg Ca Fe基体),酸度差异也值得考虑(但酸度差异较小)
针对实时监控Ar的发射谱线强度:这个高级版本的功能还没有接触过,仪器具体会通过这个发射强度信号进行校正吗?还是只是一种提醒,对操作有什么要求、定量有什么用途?
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