2.X射线总计数率是越高越好,还是稳定在2000-3000cps范围内比较好?为什么。
大方向上肯定是计数率越高越好,计数率高分析的效率就越高,面分布图的质量就越好。但是,大计数率也要考虑其他方面,比如有时大计数率是束流太大造成的,可能对样品造成更明显的损伤,也可能导致死时间太高进而造成输入计数率的下降和合峰的出现。这个道理就像战斗机追求速度,但是光考虑高速性,不考虑机动性也不行,要兼有两者,或者有个更优的飞行包线。
至于2000-3000cps这个,估计是Si(Li)探测器时代是这么个大小范围,现在都是硅漂移探测器了,应该大很多。很多书太过老旧,没有考虑现在的实际情况。
另外多说一句,现在高端的能谱,比如布鲁克的平插,牛津的170窗和无窗,大方向都是为了在低电压下、束流不太高时,有足够的计数,可应对苛刻条件下的分析。
以上是个人的理解。