原文由 NA(wangfeidown) 发表:
这个要看是测配分还是某一纯稀土里面的其它稀土杂质,配分不管是CT结构的平面光栅还是中阶梯的二维都可以,但要是第二种就要考虑稀土杂质的含量问题,尽管用17混标都可以画出R>0.999的曲线,但这是没有意义的(不匹配基体情况),不代表样品就会测准。
再有做这种基体样品尽量不要用fitted扣背景,人工选择的离峰方式会都容易接近真值,稀土元素谱线实在是太高度集中了,300-600nm就有约6500条谱线(全是稀土的),对光学分辨率要求很高,稀土密集区400nm处中阶梯大致等效1800平面的光学分辨率,这个区域稀土谱线的密度大约为45条/nm,要达到100%分辨需要0.003nm的光学分辨率,建议对于稀土杂质而言中阶梯结构最好放弃<0.01%含量级别的(个别可行,标准溶液方式),基体匹配法后会有一定倍数的改善;使用3600 4300的平面光栅确实会明显改善稀土的光学分辨率,但刻线密度越大有效波长上限越受限制,3600的理论波长上限是430nm,但会处于边缘能量区,灵敏度又受影响,所以光谱总会受到这个那个限制,改用才是ICP-MS是王道。
原文由次元之暗面(v3195919)发表:你这个全谱是记录全谱数据,这个斯派克、PE都是可以的,只是你勾上了以后读取时间会显著变长,我的理解是数据采集处理量太大,电脑受不了原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:一共用过岛津的ICPE-9000/9800,真全谱,就是无论测几个元素都是固定扫2min/次,分析完可以继续加。P的全谱没用过,8000之类的顺序扫描肯定不行。A家5100/5800/5900一个模子出来的,勾上定性扫描就再加1min的分析时间,但只能定性,不能再加谱线。T家的icap PRO就不清楚了。斯派克之前有参观过,看操作应该也是不行。
笔误,是 皮米 pm。
昨天下午16点 安捷伦搞了个 ICP-OES 在线直播:元素测试波长应该怎么选。就有观众问到了:分析结束后 能否 事后添加波长谱线。答曰:不行
使用 CID 检测器的Thermo ICP-OES 据说就可以事后添加。