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ID:ferrate
行业:其他
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ID:threedaysin
ID:dkdfcd
ID:moonbearpipi
原文由 ferrate 发表:样品:基体厚度0.4-0.5mm,在上面丝网印刷一层10-20μm的氧化物层。想用SEM看一下断面两层的结合情况。但测试时断面不平不好聚焦,拍的照片也很模糊。请问各位大侠有什么好的办法?或者有其他原因?多谢!一般情况下,看断面显微结构时,先粗调一下,然后选择一个相对较平的区域作为视场来拍照。(虽然断面不平,那只是宏观上的,在SEM中分析的区域是微观的,还是很容易找到“平面”的)
ID:chenming_18