主题:【讨论】截面SEM的制样方法

浏览0 回复13 电梯直达
百天采
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想请教一下,样品为涂有多层不同有机物薄膜的玻璃基底,想要通过SEM观测截面,观察各有机薄膜的分层效果,各层的厚度大概为50 nm左右。目前制样就是先在玻璃基底的背面用玻璃刀划一下,然后制备各有机层,然后用液氮冷却之后掰开。
拍出来的图片大概如下图,

大家有没有更好的相似的样品制样方法和经验呢?一起讨论讨论呀!
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牛牛0322
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欢迎大家积极讨论,不同的材料制样方法不同,貌似都很费时费力哦,金属试样一般为粗磨、细磨、抛光、侵蚀。
浙江亚通焊材
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实验室测试过经过刻蚀的硅片,先用金刚石刀具在背面划一刀,然后沿着划痕刻蚀面向外折断,可以观察到刻蚀后面截面形貌,效果还可以
wszlm
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这样做的一个效果就是断面不整齐;是否可以考虑类似金属晶相显微的方法,断后包埋在树脂里面进行打磨后测试?只是一个想法,欢迎讨论!
百天采
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原文由 wszlm(wszlm) 发表:
这样做的一个效果就是断面不整齐;是否可以考虑类似金属晶相显微的方法,断后包埋在树脂里面进行打磨后测试?只是一个想法,欢迎讨论!
嗯嗯,这个想法不错~主要我的样品是在玻璃基底上的多层有机薄膜,主要想通过SEM看到各薄膜间的分层信息,这样的话打磨可能不是很适合~
m3243395
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断面样品制样一般都是液氮冷却淬断,薄膜的样品相对来说比较难处理一些
m3095845
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1.有带冷阱的离子抛光刀,2.如果可以薄膜样品剥离出来用树脂包埋了切片。树脂有可能会和有机薄膜溶解,可使用胶带等物质两面贴合保护
UNM
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百天采
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原文由 UNM(v2942222) 发表:
有钱用FIB试试
FIB有想到过,不过确实感觉太贵,有种用牛刀杀鸡的感觉~
百天采
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原文由 番茄配土豆(m3243395) 发表:
断面样品制样一般都是液氮冷却淬断,薄膜的样品相对来说比较难处理一些
还好我的样品是沉积在玻璃基底上的,相对来说还能处理~
yinsh1212
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