主题:【讨论】透射电镜能谱中Cu元素的问题

浏览0 回复7 电梯直达
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材料:掺杂10%Mo原子的碳化钨和铜锆合金的反应界面
制样方法:FIB
电镜:Talos F200x
疑问:能谱面扫描如图所示,中间最亮的是W(Mo)层,右侧是WC(Mo),左侧是熔体反应产物。W元素多的地方Cu也很多,
但是众所周知,Cu在W及WC中的固溶度都很低,定量结果表明右侧WC中Cu的原子百分比达到52%,貌似有违常理。
请各路大神帮忙释疑,谢谢。
ZrWMoCuCHAADF
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蓝莓口香糖
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
样品是粘到铜环上的吧?
谢谢你的回复,但是为什么有W元素的地方铜元素含量就很高,而Zr元素偏聚的地方就相对很少呢?
蓝莓口香糖
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你先说说为什么左边那么多W?而且W和Cu的分布还是一样的。
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
你先说说为什么左边那么多W?而且W和Cu的分布还是一样的。
HAADF里面中间亮的是Cu-Zr熔体和WC反应生成的W层,左边W通过过反应进入熔体和熔体中的Cu聚集在一起不奇怪。奇怪的是右边原来的WC固体里面不太可能有这么多Cu元素。
洪星二锅头
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你右边并不是完全的WC的,仔细比较一下,C和W的亮度趋势并不一样,而Cu很有可能是受铜环的影响,特别是右边,从Cu的亮边猜测你的样品如拍摄图来看右边是与Cu想接壤的,所以多多少少受影响,我觉得你应该再右边多打几个点来分析,判断Cu的含量和是否确定是WC相
蓝莓口香糖
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我觉得是样品放反了。FIB样品是粘在铜环一侧的,应该让样品位于铜环之上更接近EDS探头,否则就会多出很多Cu的信号。
wjianna
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我们的工作中也常常碰到要看铜元素的,有效的办法就是采用非铜网,比如镍网。否则铜的干扰很难找出规律。
如果这个样品时粘在铜环上,或者FIB的半环是铜的,就无法得出可靠的铜分布的结论!
可惜做一个FIB的样品不容易。

另外,虽然W和Cu不混溶,出现第三元素(Zr, Mo)后不一定遵从这个规律,有三元相图的话可以查看一下帮助正确分析。
但是要得出可靠结论一定要避免铜网铜环的干扰,同时注意用低背景样品杆(铍)
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