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原文由 atlas 发表:原文由 liugw123450 发表:
我们公司有一种仪器：NKD（折射率、绝对吸收系数、厚度）测量高级薄膜表征系统，可以满足楼主的要求。应该是一个比较理想的工具。
与椭偏仪相比，主要优点有：
可对透明基片进行测定，而不需要对样品进行前处理，（椭偏仪不能测透明样品，对于透明样品需要做特殊处理，很麻烦）波长范围宽，同时测定反射光与透过光，准确测定n k d值，大的角度范围，
计算简单，椭偏仪数据处理很复杂，需要很专业的知识。
光谱范围：280-2300nm
光谱分辨率：1nm
厚度范围：1nm-25um
最多可以测五层薄膜
基片：透明、半透明、半吸收、半导体
角度范围：0-90度
感兴趣请跟我联系：
13146188127
刘先生
北京
我们刚在本网上发一个贴子:寻找测透明塑料薄膜(PPS,2微米厚)上的胶水层厚度(1微米左右),此仪器能否测量?大致价位?
原文由 atlas(atlas) 发表:原文由 liugw123450 发表:
我们公司有一种仪器：NKD（折射率、绝对吸收系数、厚度）测量高级薄膜表征系统，可以满足楼主的要求。应该是一个比较理想的工具。
与椭偏仪相比，主要优点有：
可对透明基片进行测定，而不需要对样品进行前处理，（椭偏仪不能测透明样品，对于透明样品需要做特殊处理，很麻烦）波长范围宽，同时测定反射光与透过光，准确测定n k d值，大的角度范围，
计算简单，椭偏仪数据处理很复杂，需要很专业的知识。
光谱范围：280-2300nm
光谱分辨率：1nm
厚度范围：1nm-25um
最多可以测五层薄膜
基片：透明、半透明、半吸收、半导体
角度范围：0-90度
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13146188127
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我们刚在本网上发一个贴子:寻找测透明塑料薄膜(PPS,2微米厚)上的胶水层厚度(1微米左右),此仪器能否测量?大致价位?
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