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主题：【资料】《FIB在微电子失效分析上的应用》

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fengyinqiao
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2014/8/8 8:50:20 21楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 icewine2000(icewine2000) 发表:
你的文件讲的介绍用双电子束同时做"切和看"，新的FIB都有这样的设计。它是“Introduction to Focused Ion Beams”这本书的第6章，这本书还是挺全面的。



谁有电子书，共享一下呗。
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jjchan48
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2014/8/8 13:58:54 22楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
Thanks for your sharing.
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BBLZM
v3023316
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2015/8/20 17:25:58 23楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
现在很多公司都有自己的FA实验室，例如我们公司可以自己 做FIB TEM EDX EBSD.........
公司事情多就做自己的事，事情不多时接外面的订单，所以我觉得你开这样一个分析实验室不一定很热门，现在很多公司自己可以做
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p3237235
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2017/5/31 13:36:09 24楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢分享。
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手机版： 【资料】《FIB在微电子失效分析上的应用》
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