主题:【求助】请问用EDS能测到多少PPM的杂质元素

浏览0 回复9 电梯直达
wzhgp
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请教大侠们:我有一金属镍样品(含Ni 99.95%wt以上),其中单个杂质元素约0.1~100PPM。现在在SEM下观察到有局部晶粒异常,想分析是否由于杂质偏析引起、什么杂质引起的。请问能否用EDS达到我的目的?谢谢大侠们啦!
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tututututu
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wzhgp
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Thank you very much!
因为是微观上分布不均匀,在SEM下是1kx看的,原子X荧光能否分析到该区域?(sorry,I'm 菜鸟,没用过XRF)
miao_zhuang
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毒菇九剑
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有些元素还是可以做的。但用EDS做的时候一定要选择“差额分析法”。如果是牛津的能谱的话定量分析设置这一步就有这个选项,选择Ni作为差额分析的元素。即先测微量成分,最后再计算Ni。否则的话很多元素出来,且误差非常大。
试一下,然后告诉我们结果吧,一个不错的讨论话题。
happydfli
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我觉得用EDS作千分之一以上的成分还行,要是低于这个数量,精确定量很困难。是不是如此呢?
mochishle
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半闭眼睛的猫
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原文由 happydfli 发表:
我觉得用EDS作千分之一以上的成分还行,要是低于这个数量,精确定量很困难。是不是如此呢?


同意.
千分之一定量大概有困难,定量结果只是个参考值,千分之五以上还可以.但如果这个数量级的元素是均匀分布在样品中,而EDS又是表面微区分析,那么只能定性分析,甚至定性分析都有点困难.
lxtsic
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EDS的检测限与试样成分、仪器性能、测试条件及元素种类有关,检测限一般为0.1%-0.5%。低含量元素束流要大、活时间要长。用WDS完全可用解决,WDS的检测限是几十PPM。用EDS的差值法也有困难,因为其它元素测量的准确度没有这么高,差值后就不准确。
德国工兵
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楼主可以尝试下,在异常区域长时间采集谱图,曾经试过十五分钟采集一个谱图,如果能谱采集时间足够长,基本上探测极限和波谱相当,当然我指的是对较重元素的探测极限。
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