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主题：请教：样品形态与谱峰偏移

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SeanWen
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发表于：2005/11/29 16:21:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
前几天在做无铅锡块的分析，取了2个样，第一个样品比较疏松，表面不是狠光滑；另外一个样品表面很光滑。分析的时候第一个样品多处获取的Sn峰都发生偏移，而第二个样品却比较吻合。请各位发表一下看法，是不是样品的形态的影响？还是别的？谢谢～～

另外，对Sn的逃逸峰该如何处理？



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2005/11/29 16:35:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 SeanWen 发表:
前几天在做无铅锡块的分析，取了2个样，第一个样品比较疏松，表面不是狠光滑；另外一个样品表面很光滑。分析的时候第一个样品多处获取的Sn峰都发生偏移，而第二个样品却比较吻合。请各位发表一下看法，是不是样品的形态的影响？还是别的？谢谢～～

另外，对Sn的逃逸峰该如何处理？

能谱 是不能  准确检测  高形貌样本的， 原因是    X射线的遮挡和反射， 还有背散射电子的  多重散射等，  所以你的理解是正确的， 能谱的样本 有条件的话 最好机械抛光。
能谱不会有 SN的逃逸峰， 我见过  SI， AU 和 NI的。无法避免
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2005/11/29 16:54:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
但是您看，第一个样品的Count Rate并没有比第二个低，还有第一个样品整体上还是比较平的，怎么说呢，就是它比较多孔吧。
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2005/11/29 17:05:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 SeanWen 发表:
但是您看，第一个样品的Count Rate并没有比第二个低，还有第一个样品整体上还是比较平的，怎么说呢，就是它比较多孔吧。

具体参数看得不是很清楚， 计数没有损失， 就是说没有 遮挡。
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