主题:【求助】如何用SEM/EDX的数据来判断金属表面是否有过氧化现象?多谢了!

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firesoul119
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同行们好!
  关于EDX的元素分析,我得到的描述是:EDX的元素分析是半定量的,特别对于微量的元素;且元素比例受观测条件和样品形貌的影响。。。
  请问大家,如何利用EDX做金属表面氧化程度的判断呢?

  目前我能想到的做法如下:
1 NG品(可能存在氧化的样品)和OK品(新品或未发现有任何问题的样品)放同一载物台上,相同处理,同时进样;
2 相同的观察条件下,分析相同的区域。

目前得到的金属表面氧含量数据是: OK ,<3%,NG =7-17%; NG》OK。

目前遇到的问题是
1 氧含量可能受样品表面可能存在的有机污染物的影响,(不能反映金属的表面含氧量)
2 EDX 自身的误差(数值本身较小时,其他影响因素的影响力相对较大)
3 关于是否过氧化,目前我这边没有找到一个标准,有可能17%也是正常的也不一定。

  请各位同行帮忙想想办法,如何解决这个氧化问题,多谢大家了!
 
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fengyonghe
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对金属表面进行元素分系,能谱绝对是不理想,俄歇谱仪能担当此任。
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Last edit by fengyonghe
firesoul119
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多谢楼上!我查了一下俄歇电了能谱(AES),发现其探测的深度和EDX不同;
“靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高”,而EDX的探测深度为2UM左右(Al表面),这样的话,两者的数据是否有可比性?
Sn的氧化层厚度我这里还没有数据,请大家不吝赐教!多谢了!
fengyonghe
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下面网页可以参考。
http://www.instrument.com.cn/search/BBSArchive_345602_1.htm
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michaeljackson
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我司现有原装进口EDX光管、标样、迈拉膜等消耗品,价格优惠有需要的请联系13560322323,区先生。
firesoul119
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原文由 fengyonghe 发表:
下面网页可以参考。
http://www.instrument.com.cn/search/BBSArchive_345602_1.htm


引用以下:
铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm,如果经过退火处理,氧化膜会随温度升高而增厚,曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量(面积比),并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度,最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式,这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。

但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。

又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度,即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度,我相信这是可行的,各位谁知道上海哪里有这样的仪器?

又听说可以用XPS来测量膜厚,谁知道这方面的信息?

END

多谢楼上的指教!请问各位同行,如果是CU上镀SN,部品在储放的过程中SN层发生的氧化是如何的?
有没有同行分析过?或有相关的数据资料?
如此的氧化会对部品的质量和使用有何影响?导电不良?表面不平整疏松么?多谢了!
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