原文由 fengyonghe 发表:
下面网页可以参考。
http://www.instrument.com.cn/search/BBSArchive_345602_1.htm
引用以下:
铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm,如果经过退火处理,氧化膜会随温度升高而增厚,曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量(面积比),并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度,最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式,这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。
但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。
又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度,即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度,我相信这是可行的,各位谁知道上海哪里有这样的仪器?
又听说可以用XPS来测量膜厚,谁知道这方面的信息?
END
多谢楼上的指教!请问各位同行,如果是CU上镀SN,部品在储放的过程中SN层发生的氧化是如何的?
有没有同行分析过?或有相关的数据资料?
如此的氧化会对部品的质量和使用有何影响?导电不良?表面不平整疏松么?多谢了!