原文由 刘彦刚(pxsjlslyg) 发表:
很高兴得到了专业人士的指导:
1、杂散光一般在棱镜转角最大位置附近会较大,对于光栅各转角位置杂散光相差不多,所以一般用边缘波长处杂散光就可以代表了,就像原子吸收那样。杂散光测试国际上都有通行做法,规程也是吸收大家的做法并适当简化了。你提到360杂散光不大,420大应该是光栅次级衍射的问题,一般光栅型分光都要配合滤光片轮滤除这些次级衍射,除非那台仪器缺了这片。
2、相比杂散光问题,更大问题其实来自于50%70%90%等大透射比没法溯源的问题,产品测量中时不时还遇到这样的样品,这对用户来说是一大困扰。另一个问题就是仪器测量范围是否真的完全可用,比如800~900是否能测准?没有检定的数据支撑。有客户就反应他们要测800多波长的样品,仪器说明书也说测量范围可以到900,但其实发现完全不能测,但是根据规程,这还是合格的。
再回到我该帖子的主题:杂散光检定很不完备的问题。专家给出的指导是:
"杂散光一般在棱镜转角最大位置附近会较大,对于光栅各转角位置杂散光相差不多,所以一般用边缘波长处杂散光就可以代表了,就像原子吸收那样。杂散光测试国际上都有通行做法,规程也是吸收大家的做法并适当简化了。你提到360杂散光不大,420大应该是光栅次级衍射的问题,一般光栅型分光都要配合滤光片轮滤除这些次级衍射,除非那台仪器缺了这片。"
对于棱镜分光的分光光度计,典型机型721,现在基本上都没有,所以我们在这不讨论,也不去验证。对于栅分光的,理论上(或者说原理上)就会造成的杂散光,当然是次级重叠现象造成的非一级光谱波长(即我们给定波长),正如专家所说为消除次级重叠现象造成的杂散光,我们的办法是“滤光片轮滤除这些次级衍射”,也就是说这样的杂散光,我们分光光度计制造者是不会允许它存在的,而真正有可能存在的杂散光是由于光栅等光学元器件制造不良,光学元器表面的灰尘和霉变形成的。而最显而易见的是消除次级重叠现象的滤光片组,以可见分光光度计为例,我见过的最少为三片,也有四片(或更多的)。不言而喻给出不同波长的光时,光栅的转角不同,滤除这些次级衍射的滤光片也会不同。自然,不同波长时杂散光是不同的,当然不同波长时,要进行杂散光的检定。
当然这里有一个需要与可能的问题,但不能因为我们做不到就认为该问题不存在吗?从某种意义上讲,也有点是掩耳或?眼什么的。