原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
标定按照标准谱标定就行
至于取向并明显的方向不好判断,至于你说凹凸是杂质,这个不知道你是怎么判断,如果说是在基底生长的东西,透射下的衍射衬度也不应该是这样,另外拍照的CCD需要扣背底了
您好,多谢老师回答。我的这个只需要根据标准谱定就行了吗?还需要考虑面间距吗?我用DM量的时候好像跟PDF卡里面数值有出入。 然后我的材料是类石墨烯的二维材料,是生长在铜箔上的,测TEM的时候,用转移的方法把它从铜箔上转移到铜网上,所以材料表面会有残胶,于是我推测上面凹凸的东西是残胶。扣背底是我可以做的还是需要测试那边做?