主题:【求助】求助一个六方晶系的TEM标定

浏览0 回复10 电梯直达
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我现在想确定材料的生长方向,所以做了电子衍射和高分辨。但是拿到结果不太会分析,对于晶面的标定找了很多资料看的云里雾里,标了几个不敢确定自己的答案,所以我想把图发上来,请各位教教我。其中高分辨图上面凹凸的是杂质,背景才是材料。


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原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
标定按照标准谱标定就行

至于取向并明显的方向不好判断,至于你说凹凸是杂质,这个不知道你是怎么判断,如果说是在基底生长的东西,透射下的衍射衬度也不应该是这样,另外拍照的CCD需要扣背底了
您好,多谢老师回答。我的这个只需要根据标准谱定就行了吗?还需要考虑面间距吗?我用DM量的时候好像跟PDF卡里面数值有出入。  然后我的材料是类石墨烯的二维材料,是生长在铜箔上的,测TEM的时候,用转移的方法把它从铜箔上转移到铜网上,所以材料表面会有残胶,于是我推测上面凹凸的东西是残胶。扣背底是我可以做的还是需要测试那边做?

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原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
我简单算了一下,和你的(100)基本上能对得上啊,标定的单位应该埃,输入的时候错了,就不该了


恩!多谢老师,我算得的是2.3左右,PDF卡才2.1,我担心误差太大了,所以不敢下结论。
最最重要的问题,像这种类石墨烯的层状材料,要怎么去确定它的生长方向呢?我一直想不清楚。好像看高分辨也看不出什么啊。
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原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
在误差范围内,这你拍摄的仪器校准、你量取的人工误差等等有关,一般只要在10%以内都可以

抱歉,从你给的图片我个人看不出生长的方向,可以查查国外的文献或者咨询做同样材料研究的同行
好的,多谢老师耐心解答
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原文由 洪星二锅头(coime) 发表:
在误差范围内,这你拍摄的仪器校准、你量取的人工误差等等有关,一般只要在10%以内都可以

抱歉,从你给的图片我个人看不出生长的方向,可以查查国外的文献或者咨询做同样材料研究的同行


老师,我把高分辨的图取了FFT,然后用masking功能,然后反FFT得到了新的高分辨图,不知道这样做可以吗?然后您能不能帮我看看我的晶面标定对不对呢?
FFT后masking 反FFT
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2017/4/12 23:33:35 Last edit by p3217507
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