我对技术问题比较感兴趣,所以想对前面说的“体内集成的场效应管和探测器之间过渡区域电荷收集不充分会引起如图一的低能尾巴问题”这个问题以自己浅薄的专业知识谈一下自己的理解,无关乎商业。
这个问题其实应该叫做“弹道亏损”,英文名叫“ballistic deficit”。引起弹道亏损的原因就是信号电子在运动过程中由于各种原因(有兴趣的可以自己去查书,讲起来太麻烦)而复合,从而形成弹道亏损。需要说明的是,弹道亏损存在于各种半导体探测器中,这是所有半导体探测器的本征属性。也就是说无论Si(Li)探头、SDD探头、Ge探头、Si-PIN探头等等等等,都会有弹道亏损存在。如果谁要说我的探头没有弹道亏损,那他比爱因斯坦还爱因斯坦。而且,弹道亏损和信号电子的运动距离成正比例,信号电子的运动距离越长,弹道亏损越严重。举个例子,如果你把Si(Li)探头做的非常厚,它的弹道亏损也会变的非常严重,因为信号电子运动的距离长了。而对于SDD来说,因为它的信号是在平行于探测器平面的方向运动,所以探测器面积越大,从理论上来讲,弹道亏损应该越严重。当然,相同探测器面积的情况下,旁置场效应管SDD的亏损会大于中心场效应管SDD的亏损。同理,10mm2旁置场效应管SDD的亏损又会比30mm2中心场效应管SDD的亏损小很多。至于低能端谱峰为什么不呈高斯分布?我再谈谈个人浅见。其实完美的高斯分布峰是不可能存在的,无论在低能端还是在高能端,弹道亏损就是引起这个现象的重要原因之一,这个才是谱峰本来应该有的真面目。无论那种探测器,这种现象在低能端会尤其明显,具体原因可以自己思考。当然,随着人们对美观越来越重视,搞了很多方法去修正图谱,比如加入一些电路,所以弄的我们现在的人都不知道原汁原味的谱图应该是怎么样的了。在一些非常老的Si(Li)能谱上,大家依然可以看到这种现象。
以上纯属个人见解,欢迎各位同行一起讨论讨论。还是那句话,真理不辩不明。