主题:【第六届原创】辉光与激光的PK,不要错过!

浏览0 回复46 电梯直达
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7楼说的16962标准哪有下的 搜了下没有啊 本站的资料库也没有啊
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轮廓仪没有用过 不太了解  如果真是能做三维的话 那我也可以试试呀 对辉光分析的坑是不是也可以测出它的凹度 得到它的深度呢
chauchylan
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呵呵,真抱歉,发错位置了,我指的是我的样品高度有三四厘米高,用激光共聚焦好像测不了,应该用光谱轮廓仪测,我的样品不是镀层样品
chauchylan
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我测的样品高度有三四厘米,激光共聚焦好象测不了啊...
frankwang2005
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确实是一个好的题材,大家积极参与或许有更多的收获
云☆飘☆逸
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根据质量求应该也是一样的道理 因为质量是跟厚度是正比关系的
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好像是根据二次荧光的强度吧  镀层厚度不一样 二次荧光强度就不一样 先得打一套已知厚度的做一曲线吧  大概应该是这样
云☆飘☆逸
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XRF测定镀层好像看ZN质量,最后转换求,或者直接根据强度的衰减得到,文献我忘记了。
云☆飘☆逸
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就是用一些镀层含量的标准样品做曲线,用C-I就可以了。
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