原文由 fanjilai(fanjilai) 发表:
简单点说吧,在仪器状态完全正常的情况下,残差过大主要是两方面的因素引起的:
一是光学参数的选择,主要是折射率虚部,也就是吸收率,它主要还体现在仪器有后向探测器的时候。还有就是虚部是0的时候对前向大角度探测器影响较大,有可能引起残差过大。这种情况只能通过修改光学参数来改善。
二是反演数学模型引起的,这种情况通常难以改善,但也可能通过修改光学参数来试一试,因为不同的光学参数对应的散射矩阵有所不同,矩阵不同它的病态性会稍有区别,所以在反演计算时可能会有不同的残差。