主题:【分享】要实现高.真扫描图片吗,看这里!!!

浏览0 回复7 电梯直达
zhimakaihua999
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主要性能参数为:


1.分辨率,

15 kV时优于0.8 nm

1 k V时优于1.0 nm (不采用减速模式)

低真空模式:10 kV时优于1.6nm,3 kV时优于1.8 nm

2.放大倍数10-1000000连续可调;

3.样品室尺寸:左右内径≥330 mm

4.样品台类型:5轴马达驱动

移动范围指标:X 3100mm  Y 3100mm  Z 325mm 

连续旋转:R=360°倾斜角T:范围不小于-15o70o

5.探测器

5.1 二次电子探头:普通二次电子检测器; 极靴内二次电子探测器;极靴内背散射电子探测器;

5.2 低真空二次电子探测器;低真空超高分辨二次电子探测器

5.3 背散射电子探头:具有优异低电压( 3kV )性能的高灵敏度低电压取向背散射电子探测器

上图为本仪器测试图片,1为半导体薄膜,2为新鲜的草叶。
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fengyonghe
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有荷电中和器,不导电样品可直接测试无需喷涂

仪器又有了新的进步
社区=冬季=
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zhimakaihua999
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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
有荷电中和器,不导电样品可直接测试无需喷涂

仪器又有了新的进步


对的老师,仪器挺先进,希望多做点贡献。久仰您大名,请多指教!
小M
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“2为新鲜的草叶”?乍一看我还以为是复眼呢
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2013/4/10 17:32:59 Last edit by mitchell_dyzy
hxm0515
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zemb
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gegeyc88
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这是蔡司的电镜,能告诉我半导体薄膜那个是怎么制样的,望不吝赐教!!万分感谢!
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