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主题：【求助】EDX的能谱究竟应该如何判定？

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发表于：2013/08/06 08:40:42 楼主 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
对于能谱，心里始终有个疑惑：



如上图，从这个结果我们可以判定样品中O，Na，Al,Si的含量超过了背景



对于这个图，我们可以判定Ca的含量超过背景吗？这个标准改如何界定呢？请各位高手不吝指教
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2013/8/7 14:41:55 沙发 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
谢谢冯老师，受教了.我查看过了，我们这里阈值为2，现在的收集时间为40S，都是OXFORD的工程师设定的。

在可信度可靠的情况下，这种只超出背景一点点的情况是该忽略还是可以判定为超出？或者再延长收集时间？
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2013/8/7 14:48:10 Last edit by cvbs11
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2013/8/9 9:14:46 板凳 管理 分享 倒序浏览 查看全部 回复 私聊
原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
原文由 cvbs11(cvbs11) 发表:
谢谢冯老师，受教了.我查看过了，我们这里阈值为2，现在的收集时间为40S，都是OXFORD的工程师设定的。

在可信度可靠的情况下，这种只超出背景一点点的情况是该忽略还是可以判定为超出？或者再延长收集时间？


已经设定阈值为2，只要自动标定了元素，这个元素就一定存在。如果不能自动标定，在阈值为1 时能自动标定，这个元素也是存在的。我们都是将阈值设定为1，因为我们是搞钢铁的，许多合金元素的含量经常是百分之零点几，如果阈值设定为2，许多合金元素就需要长长的时间才能自动标定。时间等不起。


您说的这种情况应该是单纯的成分分析吧？可能是我说的不清楚，我举个例子，如果一片不锈钢板上有一个尺寸大约是3um的杂质，我现在需要分析这个杂质的成分，这种情况下就需要用不锈钢板的成分做背景参考。所以在这种情况下，收集到的某种元素谱峰仅仅比背景谱峰高一点点，我们能说该杂质里有这种元素吗？谢谢
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