主题:【已应助】XRF和ICP-OES测试负载量差异很大,怎么解释呢家人们,哪位大佬可以救救孩子

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Ins_6e3fb17d
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家人们,想问一次为什么XRF和ICP-OES测试负载量结果,贵金属负载量XRF测试0.5左右,ICP测试结果5.5左右,高了将近10倍,但非贵金属测试结果正好相反,XRF测试结果比ICP高了将近6倍,这要怎么解释呀家人们,谁来救救我这个学术垃圾
推荐答案:yiukk回复于2023/11/24
正常来说,ICP的结果更准确,但是会受到前处理内的许多干扰,导致结果不准确。XRF虽然准确度低一些,但是结果也不会差太多,可以用标准品重新绘制曲线,用金属质控样检验一下XRF误差。你这XRF结果和ICP差太远了,感觉是ICP测得有问题,排除消解不完全、标液问题、仪器稳定性问题等影响。
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yiukk
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正常来说,ICP的结果更准确,但是会受到前处理内的许多干扰,导致结果不准确。XRF虽然准确度低一些,但是结果也不会差太多,可以用标准品重新绘制曲线,用金属质控样检验一下XRF误差。你这XRF结果和ICP差太远了,感觉是ICP测得有问题,排除消解不完全、标液问题、仪器稳定性问题等影响。
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2023/11/24 18:39:32 Last edit by m3255382
ztyzb
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楼主,XRF一般是不需要前处理,ICP-OES则是需要消解的,而且两者原理不同所以有误差正常,但像您这种情况很有可能是基体干扰,建议用ICP-OES做加标回收验证,可以用标准加入法消除基体干扰。
次元之暗面
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请详细说明样品类型,样品表面性质,icp所用的消解方法和步骤。这样子才能进行判断
JOE HUI
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这个具体看样品,看含量,XRF要求样品一定要均匀,尽量不要出现凹凸不平,凹凸的样品很容易出现偏差。样品最好额平面放在某处。被检测的样品越小越好,样品大小和仪器的显示屏差距不大是最好,样品的厚度有一定限制,特别是很多合金样品可能会在材料商涂层铜、金属、塑胶,这个时候检测材质需要对样品的表层进行处理,才能保证检测结果的精确。而ICPOES对样品需要前处理,样品要保证消解完全,其次样品测试可能存在干扰,比如基体效应,这个需要结合样品实际测试谱图等考虑。因此单纯以XRF与ICPOES结果比较不严谨,需要具体结合样品类型去综合比较。
ppttmmyy
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两种仪器的测试精度有差别,而且对样品的要求及处理不一样
yinzheng02163
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Insm_225995ca
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两种仪器的测试精度有差别,而且对样品的要求及处理不一样
p3334640
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木头2013
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水分子
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XRF(X射线荧光光谱仪)是一种半定量仪器,测试结果准确性较差。其检出限较高,一般含量需要0.1%以上的才能检测的出。
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