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主题：【求助】求ASTM F1630-2000 单晶硅III-V杂质的低温傅里叶变换-红外分析的标准试验方法

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2001smile
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发表于：2007/09/26 16:22:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
RT！
多谢多谢！！！
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2007/10/11 9:34:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
F1630-00
Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities
(Withdrawn 2003)
这个标准在2003年作废了，
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huadaxinte
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2007/10/11 9:36:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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2007/10/12 11:13:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那有没有新的替代标准呢，多谢！
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2001smile
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2007/10/12 11:13:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那有没有新的替代标准呢，多谢！
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高卧东山
littlewing
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2007/10/12 12:22:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 2001smile 发表:
那有没有新的替代标准呢，多谢！


NO REPLACEMENT，没有替代
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trifle007
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2010/4/26 9:30:13 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
目前还没有见到相关的替代标准
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