主题:X荧光 可以对大气采样的滤膜做定量分析吗?

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X荧光 可以对大气采样的滤膜做定量分析吗?
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crunix
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kurt_wf
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EDXRF在美国被广泛用来测定滤纸样品.80年代有人用WDXRF测定过滤纸样品
wdy99
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envirend
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whoami
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可以,推荐用波长色散型的仪器,可以从Na元素开始测,能量色散仪器好像只能从S开始测,具体记不清了,但钠镁铝硅肯定是测不了的。
测大气滤膜需要标样,很难买。
envirend
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原文由crunix发表: 完全可以的,我们用的德国布鲁客X荧光
如何实现呢?您们购置的啥型号呢?谢谢。
envirend
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原文由kurt_wf发表: EDXRF在美国被广泛用来测定滤纸样品.80年代有人用WDXRF测定过滤纸样品
有无相关的标准呢?~~国际标准也可,谢谢。
envirend
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原文由lyyy0412发表: 可以,推荐用波长色散型的仪器,可以从Na元素开始测,能量色散仪器好像只能从S开始测,具体记不清了,但钠镁铝硅肯定是测不了的。
测大气滤膜需要标样,很难买。
有无那个单位在这方面做得比较好呢?让我们学习一段时间呢?谢谢。
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