原文由 iangie(iangie) 发表:我也学习了~
先说你峰形的问题:Ni S P这样重吸收样品,如果有峰形非对称,那基本上不是因为Absorption的穿透造成的。应该取消Absorption correction。
而且非对称峰都在低角处,证明是axial divergence造成的。Instrument中Axial Convolution没设对!如果不知道仪器参数的话建议refine Simple Axial Model!
样品峰形的Microstructure里为什么不修Cry Size L 和 Strain L?
谁让你用11阶背景的?这么平的背景,用5阶加1/X足矣。
再说数据的问题:
你没发现很多小峰没扫到吗?小峰都淹没到背景中了!你修的结构能对了?
那么高的Ni荧光背景是怎么造成的? CuKβ!
把Ni滤片放在光管入射线一侧, 重扫数据!
原文由 iangie(iangie) 发表:再麻烦请教一下,那些小峰扫了好多次都没扫到,这种情况应该怎么解决
先说你峰形的问题:Ni S P这样重吸收样品,如果有峰形非对称,那基本上不是因为Absorption的穿透造成的。应该取消Absorption correction。
而且非对称峰都在低角处,证明是axial divergence造成的。Instrument中Axial Convolution没设对!如果不知道仪器参数的话建议refine Simple Axial Model!
样品峰形的Microstructure里为什么不修Cry Size L 和 Strain L?
谁让你用11阶背景的?这么平的背景,用5阶加1/X足矣。
再说数据的问题:
你没发现很多小峰没扫到吗?小峰都淹没到背景中了!你修的结构能对了?
那么高的Ni荧光背景是怎么造成的? CuKβ!
把Ni滤片放在光管入射线一侧, 重扫数据!
原文由 Ins_4d545c09(Ins_4d545c09) 发表:放在光管入射线一侧
您说是因为Ni的高荧光背景导致小峰被淹没,所以需要Ni滤片放在光管入射线一侧,重新测试。但是测试老师说我们的Bruker D8设备就是靠Ni滤波片滤的,测的时候已经有这个东西了。请问这是咋回事
原文由 iangie(iangie) 发表:您好,我们测试的老师说Bruker D8 在仪器设计上没有空间放Ni滤波片,是我们老师没找对地方,还是说Bruker就没设计这个东西
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
放在光管入射线一侧
Ni滤波片只能对能量高于Ni吸收限8.339KeV的光子产生有效吸收,对能量低于此吸收限的光子的吸收就不大了。
把Ni滤波片放在探测器一端无法有效吸收样品Ni荧光(7.48KeV)
把Ni滤波片放在光管入射线一侧,通过去除CuKβ (8.905KeV), 才能在源头上防止其激发样品Ni的荧光(7.48KeV)。
国内搞XRD的都这水平吗?