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主题：【求助】椭圆偏振可以测石墨上自组装有机膜厚度吗？

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star8500
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发表于：2007/04/04 09:12:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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椭圆偏振可以测石墨上自组装有机膜厚度吗？我的实验是做石墨上的自组装膜，可是不知是否可以用椭圆偏振仪来测量？

求指教！
推荐答案：JayZHONG回复于2007/04/07
补充答案：

romantic25回复于2007/04/19

这种测试可以做的.

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JayZHONG
zhjclock
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2007/4/4 17:39:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可以！

在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛．因此，更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要．在实际工作中虽然可以利用各种传统的方法测定光学参数（如布儒斯特角法测介质膜的折射率、干涉法测膜厚等），但椭圆偏振法（简称椭偏法）具有独特的优点，是一种较灵敏（可探测生长中的薄膜小于0.1nm的厚度变化）、精度较高（比一般的干涉法高一至二个数量级）、并且是非破坏性测量．是一种先进的测量薄膜纳米级厚度的方法．它能同时测定膜的厚度和折射率（以及吸收系数）．因而，目前椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸方面得到较为广泛的应用．这个方法的原理几十年前就已被提出，但由于计算过程太复杂，一般很难直接从测量值求得方程的解析解．直到广泛应用计算机以后，才使该方法具有了新的活力．目前，该方法的应用仍处在不断的发展中．

原文由 star8500 发表:
椭圆偏振可以测石墨上自组装有机膜厚度吗？我的实验是做石墨上的自组装膜，可是不知是否可以用椭圆偏振仪来测量？

求指教！
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star8500
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2007/4/6 14:44:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可是我的是石墨衬底，软且没有折射率，请问这样也可以做椭圆偏振光谱测试吗？
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JayZHONG
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2007/4/7 17:31:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
问了一下做椭偏的同学，他说可以的，只要不是透明的就行
原文由 star8500 发表:
可是我的是石墨衬底，软且没有折射率，请问这样也可以做椭圆偏振光谱测试吗？
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romantic25
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2007/4/19 16:33:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这种测试可以做的.
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star8500
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2007/4/20 16:37:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问有人做过在椭圆偏振仪上测试石墨吗？
我问过华师的老师，他说只能做光学各向同性的，不能做各向异性的，而石墨就是各向异性的，所以不能做
问了中大的老师，他说只能在硅片上做！

请问是否有人做过类似实验，求指教！
QQ：66582492
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