主题:【求助】样品喷镀金属于二次电子像关系

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wariii
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磨剪子嘞 锵菜刀
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原文由 RENXIN 发表:
原文由 wariii 发表:
上面表达不明确
问表面镀不同金属,他们之间二次电子的产额和成像不同之处。据说镀重金属(如金)会得到更好的二次电子像,怎么解释啊?谢谢

另外一个事实也很难让人相信。
事实是, 样本镀了重金属后所谓的二次电子像是亮了很多,但您所看到的已经不是二次电子了。
是什么了呢,大家先说说


背散射呗,以前的帖子里讲过的;验收用碳喷金样品很能说明问题。
zemb
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一般来说,在样品表面镀金主要是为了使不导电样品表面导电,以消除样品的充电效应。
样品表面镀金,增加了样品表面材料的原子序数,减小了电子束与样品的作用范围,这样可以提高分辨率,也就是更容易调出清晰的图像,并不是二次电子有多大的增加。用金做分辨率标样也是这个原因,如果用铁,肯定得不到好的分辨率。
但一般还没有在导电金属样品表面镀金的,有兴趣者不妨试试,看看效果如何。
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原文由 amoslau 发表:
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上面表达不明确
问表面镀不同金属,他们之间二次电子的产额和成像不同之处。据说镀重金属(如金)会得到更好的二次电子像,怎么解释啊?谢谢

另外一个事实也很难让人相信。
事实是, 样本镀了重金属后所谓的二次电子像是亮了很多,但您所看到的已经不是二次电子了。
是什么了呢,大家先说说


背散射呗,以前的帖子里讲过的;验收用碳喷金样品很能说明问题。

再请问为什么二次电子检测器会探测到背散射电子呢,如果这个问题您不屑回答的话,请问是否有可能二次电子检测器只看二次电子,背散射电子检测器只看背散射电子呢。
磨剪子嘞 锵菜刀
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再请问为什么二次电子检测器会探测到背散射电子呢,如果这个问题您不屑回答的话,请问是否有可能二次电子检测器只看二次电子,背散射电子检测器只看背散射电子呢。


嘿嘿,当然能了,Zeiss的二次电子探测器就可以只看二次电子啊,具体什么原理还要请大虾明示,我去找只笔记下来学习学习!高能过滤?自己瞎猜不要见笑!
eigen
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首先说明一下,我是新手,正在学习阶段,说错的麻烦毫不客气的指出啊:)

二次电子的产率主要只跟样品的表面形貌有关吧,所以用二次电子像来表征形貌;SEM里的各种探头中,只有二次电子探头能够主动的吸附二次电子,其他几种探头都是被动的吧;另外背散射探头的位置比较特殊,因为背散射电子本身方向是比较特殊的,而二次电子在各个方向都会有。
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原文由 amoslau 发表:
原文由 RENXIN 发表:
再请问为什么二次电子检测器会探测到背散射电子呢,如果这个问题您不屑回答的话,请问是否有可能二次电子检测器只看二次电子,背散射电子检测器只看背散射电子呢。


嘿嘿,当然能了,Zeiss的二次电子探测器就可以只看二次电子啊,具体什么原理还要请大虾明示,我去找只笔记下来学习学习!高能过滤?自己瞎猜不要见笑!


猜对了一半。
能量过滤装置使  背散射探头只看背散射电子。
静电透镜设计使得二次电子探头只关心真正的二次电子, 产生纯二次电子像。
低端的二次电子探头其实是 ET探头, EVERHART 和 THOELEY 先生的发明,以讹传讹, 不知道怎么就叫成  二次电子探头了。
不得不承认这一点FEI做得很好, ET探头叫ETD,不叫SED。
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原文由 RENXIN 发表:

猜对了一半。
能量过滤装置使  背散射探头只看背散射电子。
静电透镜设计使得二次电子探头只关心真正的二次电子, 产生纯二次电子像。
低端的二次电子探头其实是 ET探头, EVERHART 和 THOELEY 先生的发明,以讹传讹, 不知道怎么就叫成  二次电子探头了。
不得不承认这一点FEI做得很好, ET探头叫ETD,不叫SED。


静电透镜?Zeiss不是磁透镜么?难道是静电偏转物镜?ULTRA 60也标配ET探头啊!您是说In-lens能产生比较“纯”的SEI吧?
EVERHART和THOELEY共同改进(加上了10Kv的偏压)了“电子探测器”,后来有了背散射探头,相对BSD探头而言ET探头能够更多的采集到二次电子信号,因此大家都称之为二次电子探头。
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