原文由 amoslau 发表:原文由 RENXIN 发表:原文由 wariii 发表:
上面表达不明确
问表面镀不同金属,他们之间二次电子的产额和成像不同之处。据说镀重金属(如金)会得到更好的二次电子像,怎么解释啊?谢谢
另外一个事实也很难让人相信。
事实是, 样本镀了重金属后所谓的二次电子像是亮了很多,但您所看到的已经不是二次电子了。
是什么了呢,大家先说说
背散射呗,以前的帖子里讲过的;验收用碳喷金样品很能说明问题。
原文由 amoslau 发表:原文由 RENXIN 发表:
再请问为什么二次电子检测器会探测到背散射电子呢,如果这个问题您不屑回答的话,请问是否有可能二次电子检测器只看二次电子,背散射电子检测器只看背散射电子呢。
嘿嘿,当然能了,Zeiss的二次电子探测器就可以只看二次电子啊,具体什么原理还要请大虾明示,我去找只笔记下来学习学习!高能过滤?自己瞎猜不要见笑!
原文由 RENXIN 发表:
猜对了一半。
能量过滤装置使 背散射探头只看背散射电子。
静电透镜设计使得二次电子探头只关心真正的二次电子, 产生纯二次电子像。
低端的二次电子探头其实是 ET探头, EVERHART 和 THOELEY 先生的发明,以讹传讹, 不知道怎么就叫成 二次电子探头了。
不得不承认这一点FEI做得很好, ET探头叫ETD,不叫SED。